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负偏压对多弧离子镀TiN薄膜结构和沉积速率的影响 被引量:1

Effects of negative bias on the structure and deposition rate of TiN films fabricated by arc ion plating
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摘要 采用多弧离子镀设备在抛光后的高速钢表面沉积TiN薄膜,在其他参数不变的情况下,着重考察偏压对薄膜的沉积速率的影响。实验结果表明,随着负偏压的增加,沉积速率不断增加,但在负偏压达到一定值后,沉积速率又随偏压增大而减小。 TiN films were deposited on polished HSS substrates by arc ion plating(AIP). The influence of biases on the deposition rate was focused on while keeping other parameters constant. The results show that the deposition rate initially increases with increasing bias. After reaching a maximum value, the deposition rate decreases as the bias is further increased.
出处 《真空》 CAS 2013年第1期20-22,共3页 Vacuum
基金 天津师范大学推进计划项目(52X09038)资助
关键词 多弧离子镀 TIN薄膜 偏压 沉积速率 arc ion plating TiN film bias deposition rate
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