同被引文献8
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1杨昌虎,杨力君.分光计的调整对椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率的影响[J].实验技术与管理,2005,22(11):40-41. 被引量：5
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2杨昌虎,曾晓英,廖家欣.样品的倾斜度对椭偏法测量薄膜参数的影响[J].实验室研究与探索,2007,26(7):20-22. 被引量：2
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3AZZAM R M A, BASHARA N M. Ellipsometry and P- olarized Light [M]. New York: Elsevier North-Holland, 1977:1-20. 被引量：1
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5华东师范大学数学系.数学分析(下册)[M].3版.北京:高等教育出版社,2007:151-156. 被引量：1
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6徐均琪,冯小利.多层薄膜光学常数的椭偏法研究[J].光电工程,2009,36(2):29-33. 被引量：16
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7张宏琴,王海燕.椭偏仪的测量研究和误差分析[J].大学物理实验,2009,22(2):79-82. 被引量：4
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8程敏熙,何振江,黄佐华.分振幅斯托克斯参量的椭偏测厚方法[J].光电工程,2009,36(7):100-106. 被引量：5
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2杨昌虎,杨力君.分光计的调整对椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率的影响[J].实验技术与管理,2005,22(11):40-41. 被引量：5
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3杨先望,季敏宁,李铭祥.毫米波椭偏测量法的数值模拟研究[J].微波学报,2009,25(3):34-38.
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4温淑珍,李怀亮,张全禹.分析1/4波片对椭圆偏振法测量误差产生的原因[J].黑龙江科技信息,2007(07X):42-42. 被引量：1
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5范志新,刘占杰.单层薄膜的五次多项式椭偏方程的数值分析[J].河北工业大学学报,2000,29(4):86-91. 被引量：1
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6张亮,曹力丹,潘永华,高惠滨.微波椭偏法测量不透明材料的厚度[J].物理实验,2011,31(2):6-10. 被引量：1
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7光学薄膜参数测试[J].中国光学,2001(2):67-68.
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8黄佐华,何振江.测量薄膜厚度及其折射率的光学方法[J].现代科学仪器,2003,20(4):42-44. 被引量：23
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9H. Sadeghi M. Mosavi-Khansari.The Photon Polarization Parameter of 2H（n, γ）3H reaction with Inclusion of the Electric Quadrupole Contribution[J].Chinese Physics Letters,2014,31(9):32-35.
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10大日本印刷开发出等离子电视屏防反射表面薄膜[J].新材料产业,2006(2):81-82.
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