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化学镀镍和镍/金在微电子领域中的应用及展望 被引量:24
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作者 崔国峰 李宁 +3 位作者 黎德育 黄久贵 武刚 蒋丽敏 《电镀与环保》 CAS CSCD 2003年第4期7-9,共3页
介绍了化学镀镍和镍 /金技术以及镍 磷层的电学性能 ,综述了其在倒装芯片凸焊点的UBM、印刷电路板和电感 电容 电阻LCR元件生产上的应用。展望了化学镀镍技术在微电子领域中的应用前景。
关键词 化学镀 / 微电子领域 应用 电学性能
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化学镀镍/金的渗镀原因及解决方案 被引量:2
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作者 陈红华 《印制电路信息》 2023年第1期64-66,共3页
0引言在化学镀镍/金(electroless Nickel/immersion Gold,ENIG)制程中产生渗镀是一种常见现象,一般可通过调整ENIG的各项参数得到解决或改善。本公司出现的渗镀现象与以往有所不同,调整ENIG各项参数后,改善不明显。IC连接盘边缘的渗镀... 0引言在化学镀镍/金(electroless Nickel/immersion Gold,ENIG)制程中产生渗镀是一种常见现象,一般可通过调整ENIG的各项参数得到解决或改善。本公司出现的渗镀现象与以往有所不同,调整ENIG各项参数后,改善不明显。IC连接盘边缘的渗镀现象如图1所示。 展开更多
关键词 渗镀 连接盘 化学镀 ENIG / 常见现象 解决方案
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化学镀镍/金连接盘打线键合跳线探讨
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作者 钱程 曾玮 宋强 《印制电路信息》 2024年第6期56-57,共2页
0引言某客户反馈一款(A品)打线键合连接盘跳线异常,如图1所示。该印制电路板(printed circuit board,PCB)周期D不良,其他周期(F、G)无异常。
关键词 印制电路板 线键合 连接盘 客户反馈 跳线 化学镀 / PCB
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Ni/Au与p-GaN的比接触电阻率测量 被引量:3
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作者 卫静婷 冯玉春 +5 位作者 李炳乾 杨建文 刘文 王质武 施炜 杨清斗 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2006年第6期655-659,共5页
通过采用环形传输线方法(CILM),电流-电压(I-V)曲线、表面形貌等方法,研究不同的Ni/Au厚度比和空气气氛下合金退火温度对p型氮化镓欧姆接触特性造成的影响。根据Ni/Au与p型氮化镓欧姆接触的形成机制,采用合适的Ni/Au厚度比及退火温度,... 通过采用环形传输线方法(CILM),电流-电压(I-V)曲线、表面形貌等方法,研究不同的Ni/Au厚度比和空气气氛下合金退火温度对p型氮化镓欧姆接触特性造成的影响。根据Ni/Au与p型氮化镓欧姆接触的形成机制,采用合适的Ni/Au厚度比及退火温度,得到比接触电阻率(ρc)为1.09×10-5Ω.cm2的Ni/Au-p-GaN电极,并分析了Ni在退火过程中对形成良好的欧姆接触中所起到的作用。 展开更多
关键词 p型氮化镓 / 比接触电阻率
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氧化Au/Ni/p-GaN欧姆接触形成的机理 被引量:1
5
作者 胡成余 秦志新 +7 位作者 冯振兴 陈志忠 杨华 杨志坚 于彤军 胡晓东 姚淑德 张国义 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第6期1154-1158,共5页
用卢瑟福背散射(RBS)和同步辐射X射线衍射(XRD)研究了p-GaN上的Ni/Au电极在空气下不同温度合金后的微结构的演化,并揭示这种接触结构的欧姆接触形成机制.研究不同温度下比接触电阻(ρc)的变化,发现从450℃开始Au扩散到GaN的表面在p-GaN... 用卢瑟福背散射(RBS)和同步辐射X射线衍射(XRD)研究了p-GaN上的Ni/Au电极在空气下不同温度合金后的微结构的演化,并揭示这种接触结构的欧姆接触形成机制.研究不同温度下比接触电阻(ρc)的变化,发现从450℃开始Au扩散到GaN的表面在p-GaN上形成外延结构以及O向电极内部扩散反应生成NiO对降低ρc起到了关键的作用.在500℃时,Au的外延结构进一步改善,O进一步向样品内部扩散生成NiO,ρc也达到了最低值.但当合金温度升高到600℃时,金属半导体界面NiO的大部分或全部向外扩散,从而脱离与pGaN的接触,使ρc显著升高. 展开更多
关键词 p型氮化镓 / 比接触电阻 同步辐射 卢瑟福背散射
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手机应用领域的印制线路板表面处理新趋势
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作者 王建国(编译) 《现代表面贴装资讯》 2007年第1期7-15,共9页
沉浸镍/金是过去十年主要的印刷线路板表面处理方法。在过去的5年里,手机已经相当流行,并且以非常大的数量普及全球各个不同的气候带,与此同时,手机终端已经成为许多人的必需品,在他们参与的任何活动中都要随身携带。用户行为的... 沉浸镍/金是过去十年主要的印刷线路板表面处理方法。在过去的5年里,手机已经相当流行,并且以非常大的数量普及全球各个不同的气候带,与此同时,手机终端已经成为许多人的必需品,在他们参与的任何活动中都要随身携带。用户行为的这些变化已经严重成变了来自潮湿,汗液.腐蚀性气体和机械跌落的影响。对焊料连接可靠性的要求的结果是,抗腐蚀性和耐磨性变得越来越重要,以便保证终端设备的高可靠性。 由于稀薄且多孔的沉浸镍/金无法以一种令人满意的方式应对这些挑战,现在.一个避免使用沉浸(Imm.)镍/金的范式转换正在进行中. 几年前,诺基亚已经使用OSP替代了终端设备焊盘上的沉浸镍/金,并对焊料连接可靠性产生了积极影响.现在,电化学理论研究和大规模高产量生产已经证明,对于捷盘和弹簧接触盘,碳表面处理加以恰当的概念设计将使沉浸镍/金在不久的将来成为多余之选. 本论文将讨论在为刚性印刷线路板选择表面处理时各种各样需要考虑的事项,和来自诺基亚手机的广泛的可行性研究,并辅以采自IPU/IPL/DTU的电化学理论研究。 展开更多
关键词 表面处理 HASL / ENIG OSP 可靠性 属间化合物 脆变 腐蚀 环境试验 用户特征 便携式消费电子产品
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锍镍试金-等离子体质谱法测定地球化学勘探样品中的铂族元素和金Ⅰ.分析流程的简化 被引量:62
7
作者 何红蓼 吕彩芬 +2 位作者 周肇茹 史世云 李冰 《岩矿测试》 CAS CSCD 北大核心 2001年第3期191-194,共4页
报道了一个改进的锍镍试金 -等离子体质谱测定铂族元素和金的分析流程。用封闭溶解贵金属硫化物滤渣与同位素稀释法测锇相结合 ,解决了包括锇在内的全部铂族元素和金的测定 ,避免了锇的蒸馏分离和 (或 )单独测定 ,简化了分析流程 ,以适... 报道了一个改进的锍镍试金 -等离子体质谱测定铂族元素和金的分析流程。用封闭溶解贵金属硫化物滤渣与同位素稀释法测锇相结合 ,解决了包括锇在内的全部铂族元素和金的测定 ,避免了锇的蒸馏分离和 (或 )单独测定 ,简化了分析流程 ,以适应大批量化探样品的要求。用所拟方法分析了标准物质中铂族元素和金 。 展开更多
关键词 铂族元素 等离子体质谱法 封闭溶滤渣 同位素稀释法 地球化学勘探样品
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锍镍试金-等离子体质谱法测定地球化学勘探样品中的铂族元素和金Ⅱ.分析流程空白的降低 被引量:52
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作者 吕彩芬 何红蓼 +3 位作者 周肇茹 支辛辛 李冰 张勤 《岩矿测试》 CAS CSCD 北大核心 2002年第1期7-11,共5页
对锍镍试金富集 -等离子体质谱法测定贵金属流程中的试剂空白进行了检查 ,并对空白主要来源 -捕集剂镍的各种纯化方法作了对比 ,提出了回收试金流程中溶扣后滤液中的镍循环使用。在有效降低空白的基础上 ,满足了化探样品所要求的 0 .0xn... 对锍镍试金富集 -等离子体质谱法测定贵金属流程中的试剂空白进行了检查 ,并对空白主要来源 -捕集剂镍的各种纯化方法作了对比 ,提出了回收试金流程中溶扣后滤液中的镍循环使用。在有效降低空白的基础上 ,满足了化探样品所要求的 0 .0xng/g级检出限 ,对超痕量贵金属标样分析结果与标准值符合。 展开更多
关键词 空白 试剂提纯 铂族元素 等离子体质谱法 地球化学勘探
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铂族元素和金的硫化镍试金预富集在现代仪器分析方法中的应用 被引量:22
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作者 刘小荣 董守安 《贵金属》 CAS CSCD 2002年第1期45-52,共8页
评述了硫化镍试金预富集贵金属 ,然后采用中子活化法、感耦等离子体质谱法、原子吸收光谱法以及感耦等离子体原子发射光谱法测定痕量、超痕量贵金属的现状 ;并对硫化镍试金富集贵金属的机理进行了探讨 ,晶体结构及贵金属硫化物和硅酸盐... 评述了硫化镍试金预富集贵金属 ,然后采用中子活化法、感耦等离子体质谱法、原子吸收光谱法以及感耦等离子体原子发射光谱法测定痕量、超痕量贵金属的现状 ;并对硫化镍试金富集贵金属的机理进行了探讨 ,晶体结构及贵金属硫化物和硅酸盐渣相化合物的热力学数据表明 ,在硫化镍相和渣相分离时 ,贵金属趋向于进入硫化镍相。引用文献5 展开更多
关键词 硫化 中子活化法 仪器分析 铂族元素
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锍镍试金富集-等离子体质谱法测定西太平洋富钴结壳中的铂族元素 被引量:22
10
作者 石贵勇 孙晓明 +4 位作者 屈文俊 薛婷 张美 熊德信 王生伟 《岩矿测试》 CAS CSCD 2007年第2期113-116,共4页
根据西太平洋麦哲伦海山富钴板状结壳样品的成分特征,对常规的锍镍试金配方作了改进;酌情减少捕集剂羰基镍的加入量,可显著降低铂族元素的空白值。富集后的样品,采用电感耦合等离子体质谱测定铂族元素(PGE)。其中,Ru、Rh、Pd、Ir和Pt用... 根据西太平洋麦哲伦海山富钴板状结壳样品的成分特征,对常规的锍镍试金配方作了改进;酌情减少捕集剂羰基镍的加入量,可显著降低铂族元素的空白值。富集后的样品,采用电感耦合等离子体质谱测定铂族元素(PGE)。其中,Ru、Rh、Pd、Ir和Pt用常规外标法测定, ^(175)Lu作内标;Os用同位素稀释法测定。用国家一级标准物质GBW 07290和GBW 07291作监控分析质量的参考样,结果满足要求。 展开更多
关键词 富钴结壳 铂族元素 电感耦合等离子体质谱法
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锍镍试金-微波消解-高分辨率连续光源石墨炉原子吸收光谱法测定岩石矿物中超痕量铂钯钌铑铱 被引量:21
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作者 毛香菊 刘璐 +3 位作者 肖芳 张宏丽 高小飞 倪文山 《冶金分析》 CAS 北大核心 2020年第3期1-8,共8页
Pt、Pd、Ru、Rh和Ir属于铂族元素,它们物理化学性质接近,是一组重要的地球化学和环境化学元素。然而,铂族元素在自然界矿石中丰度很低且分布不均匀,具有块金效应,准确测定其含量一直是分析化学中的难题。实验采用锍镍试金法对样品中Pt... Pt、Pd、Ru、Rh和Ir属于铂族元素,它们物理化学性质接近,是一组重要的地球化学和环境化学元素。然而,铂族元素在自然界矿石中丰度很低且分布不均匀,具有块金效应,准确测定其含量一直是分析化学中的难题。实验采用锍镍试金法对样品中Pt、Pd、Ru、Rh和Ir进行分离和富集,用微波消解法处理Pt、Pd、Ru、Rh和Ir这些金属的硫化物沉淀以及滤纸,用高分辨率连续光源石墨炉原子吸收光谱法(HRCS-GFAAS)对样品溶液中这些元素进行测定,建立了岩石矿物中超痕量Pt、Pd、Ru、Rh和Ir的测定方法。实验表明:运用传统的锍镍试金富集岩石矿物中Pt、Pd、Ru、Rh和Ir时,用实验制备提纯的NiCO 3代替商品试剂NiO作为捕集剂,可大幅度降低锍镍试金流程中待测元素Pt、Pd、Ru、Rh和Ir的空白值,且空白值非常稳定;采用微波消解仪在优化的加热消解程序下以10 mL王水(1+1)溶解Pt、Pd、Ru、Rh和Ir这些金属的硫化物沉淀以及滤纸,Pt、Pd、Ru、Rh和Ir可被完全溶解在溶液中,Ru不会形成RuO 4挥发;采用连续光源原子吸收光谱仪的高分辨率分光系统,各待测元素的连续光源原子吸收光谱分辨率均不大于0.00223 nm/pixel,可将Pt、Pd、Ru、Rh和Ir的原子吸收谱线与干扰谱线完全分开,故样品中共存元素对Pt、Pd、Ru、Rh和Ir所测谱线的干扰可忽略。在选定的实验条件下,Pt、Pd、Ru、Rh和Ir的吸光度与其对应的质量浓度运用二次方程最小二乘法拟合校准曲线,各元素校准曲线的相关系数分别为0.9999、0.9998、0.9998、0.9999、0.9997;特征浓度分别为2.98、0.47、0.98、0.48、2.76 ng/mL。将实验方法应用于铬铁矿原矿中Pt、Pd、Ru、Rh和Ir的测定,测定结果的相对标准偏差(n=5)介于4.2%~13.4%之间。按实验方法测定土壤和岩石(橄榄石、辉石)等标准物质中的Pt、Pd、Ru、Rh和Ir,测定值与标准值吻合良好。 展开更多
关键词 碳酸 微波消解 高分辨率连续光源石墨炉原子吸收光谱法(HRCS-GFAAS)
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锍镍试金富集-电感耦合等离子体质谱法测定黑色页岩中的铂族元素 被引量:21
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作者 赵素利 张欣 +2 位作者 温宏利 李超 屈文俊 《岩矿测试》 CAS CSCD 北大核心 2011年第6期723-726,共4页
黑色页岩中碳、硫、镍等元素的含量很高,按照常规的锍镍试金熔剂配方不能形成较好的锍扣,影响铂族元素准确定值。本文通过调整试剂配方、优化操作流程等方式建立了黑色页岩中铂族元素的锍镍试金-电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)测定方法... 黑色页岩中碳、硫、镍等元素的含量很高,按照常规的锍镍试金熔剂配方不能形成较好的锍扣,影响铂族元素准确定值。本文通过调整试剂配方、优化操作流程等方式建立了黑色页岩中铂族元素的锍镍试金-电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)测定方法。结果表明,加入适量硝酸钾可以将铂族元素回收率提高了大约10%。用盐酸溶解锍扣之后,溶液中仍然存在大量黑色沉淀,不易过滤和溶解,趁热在不断搅拌下加入2~3 mL三氯化铁溶液可以在很大程度上减少沉淀量,降低实验操作的难度和不确定性。方法检出限Ru为0.054 ng/g,Rh为0.040 ng/g,Pd为0.40 ng/g,Ir为0.032 ng/g,Pt为0.27 ng/g,Os为0.026 ng/g。精密度和准确度试验表明,该方法稳定可靠,可用于黑色页岩中铂族元素的准确测定。 展开更多
关键词 黑色页岩 铂族元素 电感耦合等离子体质谱法
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锍镍试金富集-等离子体质谱法测定煌斑岩中铂族元素 被引量:19
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作者 石贵勇 孙晓明 +2 位作者 张燕 韦慧晓 刘邦 《岩矿测试》 CAS CSCD 2008年第4期241-244,共4页
试金配料中适量加入铁粉,控制硫化铁在锍扣中的含量在20%-40%,获得的锍扣直接用水浸泡粉化后加盐酸分解,分解结束后趁热过滤,沉淀用1mL王水溶解,定容后上机测定,Cs作内标。改进后的方法空白水平进一步降低,检出限得到显著改善... 试金配料中适量加入铁粉,控制硫化铁在锍扣中的含量在20%-40%,获得的锍扣直接用水浸泡粉化后加盐酸分解,分解结束后趁热过滤,沉淀用1mL王水溶解,定容后上机测定,Cs作内标。改进后的方法空白水平进一步降低,检出限得到显著改善,分析流程简化。采用改进后的锍镍试金富集-等离子体质谱法测定了云南哀牢山金矿带煌斑岩和国家一级标准物质GBW07288(GPt-1)、GBW07290(GPt-3)中的铂族元素(PGEs)含量,方法检出限为0.001-0.01ng/g,精密度(RSD,n=5)为7.49%-16.6%。 展开更多
关键词 电感耦合等离子体质谱法 铂族元素 煌斑岩
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锍镍试金富集—等离子质谱法测定地质样品中的金铂钯铑铱钌 被引量:17
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作者 施意华 靳晓珠 +1 位作者 熊传信 黄俭惠 《矿产与地质》 2009年第1期92-95,共4页
建立了锍镍试金富集—电感耦合等离子质谱法测定地质样品中金铂钯铑铱钌的方法。研究了富集时各种实验因素的影响,样品用琉试金富集,盐酸处理锍镍扣,碲共沉淀富集,过滤,沉淀用王水溶解,ICP-M S测定。方法检出限:A u为0.11、P t为0.050... 建立了锍镍试金富集—电感耦合等离子质谱法测定地质样品中金铂钯铑铱钌的方法。研究了富集时各种实验因素的影响,样品用琉试金富集,盐酸处理锍镍扣,碲共沉淀富集,过滤,沉淀用王水溶解,ICP-M S测定。方法检出限:A u为0.11、P t为0.050、Pd为0.028、R h为0.018、Ir为0.013、R u为0.02,相对标准偏差(n=12),A u为8.25%、P t为4.76%、P t为4.97%、R h为5.63%、Ir为5.38%、R u为6.81%。经国家一级地球化学标准物质验证,铂族元素和金的测定值与标准质相吻合。 展开更多
关键词 地质样品 电感耦合等离子质谱法(ICP-MS)
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锍镍试金-电感耦合等离子体质谱法测定硫铁矿中铂族元素 被引量:14
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作者 赵素利 张欣 +4 位作者 李曼 温宏利 屈文俊 曹亚萍 李超 《岩矿测试》 CAS CSCD 北大核心 2011年第4期412-415,共4页
锍镍试金常用于富集常规地质样品中的铂族元素(PGEs);而用于富集硫铁矿中的PGEs鲜有报道。硫铁矿中硫和铁的含量较高,采用常规的试金配方不能得到较好的锍扣,影响下一步样品的溶解和过滤。本文对锍镍试金-电感耦合等离子体质谱法测定硫... 锍镍试金常用于富集常规地质样品中的铂族元素(PGEs);而用于富集硫铁矿中的PGEs鲜有报道。硫铁矿中硫和铁的含量较高,采用常规的试金配方不能得到较好的锍扣,影响下一步样品的溶解和过滤。本文对锍镍试金-电感耦合等离子体质谱法测定硫铁矿中PGEs的流程进行改进。针对硫铁矿中硫和铁含量高的特点,在不减少称样量的情况下,调整常规锍镍试金中的试剂配方,获得了理想的锍扣和熔渣,使锍扣富集PGEs的能力达到最佳,且避免了由于反应时间过长而造成PGEs损失。同时利用硫化铁易剥落和粉化的特点,省去了锍扣的机械粉碎工序,简化了流程,避免了碎扣时的机械损失和样品间可能的交叉污染。结果表明,高含量的铁对PGEs的测定无显著影响。加标回收试验显示PGEs全流程回收率大于94%。按10 g取样量计算,方法检出限分别为Ru 0.018 ng/g,Rh 0.017ng/g,Pd 0.18 ng/g,Os 0.019 ng/g,Ir 0.013 ng/g,Pt 0.11 ng/g。实际样品分析和加标回收试验表明,改进后的锍镍试金-电感耦合等离子体质谱测定流程可以满足大多数硫铁矿中PGEs的测定要求。 展开更多
关键词 铂族元素 硫铁矿 电感耦合等离子体质谱法
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锍镍试金-高分辨率连续光源石墨炉原子吸收光谱法测定铬铁矿中铂族元素 被引量:14
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作者 毛香菊 肖芳 +3 位作者 刘璐 张宏丽 孙启亮 倪文山 《冶金分析》 CAS 北大核心 2020年第7期40-46,共7页
针对难融铬铁矿样品中铂族元素的分析,提出了过氧化钠和氧化钙预烧结样品再进行锍镍试金富集的新方法,实验方法可完全分解铬铁矿,后续采用微波消解仪在优化的加热消解程序下以10mL王水(1+1)溶解Pt、Pd、Ru、Rh、Ir的硫化物沉淀连同滤纸... 针对难融铬铁矿样品中铂族元素的分析,提出了过氧化钠和氧化钙预烧结样品再进行锍镍试金富集的新方法,实验方法可完全分解铬铁矿,后续采用微波消解仪在优化的加热消解程序下以10mL王水(1+1)溶解Pt、Pd、Ru、Rh、Ir的硫化物沉淀连同滤纸,在微波消解密闭高温高压条件下,被测元素被完全溶解,然后应用高分辨率连续光源石墨炉原子吸收光谱法(HRCS-GFAAS)测定。实验优化了Pt、Pd、Ru、Rh和Ir的灰化和原子化温度、原子化读数时间和电感耦合器件(CCD)检测器有效像素点。在优化的实验条件下,Pt、Pd、Ru、Rh和Ir的吸光度与其对应的质量浓度运用二次方程最小二乘法拟合校准曲线,曲线拟合良好,校准曲线决定系数均不小于0.9994;特征浓度分别为1.56、1.98、0.45、1.27、3.06ng/mL。将实验方法应用于标准物质中5种铂族元素的测试,测定值与标准值吻合良好,5次平行分析实际铬铁矿样品中结果的相对标准偏差(RSD,n=5)介于5.0%~14%之间。所建立的方法满足铬铁矿样品中痕量、超痕量Pt、Pd、Ru、Rh和Ir的测定要求。 展开更多
关键词 铬铁矿 微波消解 高分辨率连续光源石墨炉原子吸收光谱法(HRCS-GFAAS)
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IC封装载板的新型表面涂饰层——ENEPIG 被引量:8
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作者 龚永林 《印制电路信息》 2007年第10期47-49,共3页
文章介绍一种新型的化学镀镍化学镀钯与浸金表面涂饰层,克服了化学镀镍浸金涂层的缺点,更加适合于IC封装载板上应用。
关键词 化学镀 化学镀化学镀钯与浸 IC封装载板
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P对Au/Ni/Cu焊盘与SnAgCu焊点焊接界面可靠性的影响 被引量:9
18
作者 陆裕东 何小琦 +2 位作者 恩云飞 王歆 庄志强 《稀有金属材料与工程》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2009年第3期477-480,共4页
采用回流焊工艺在ENIG镀层印制电路板上组装289I/Os无铅Sn-3.0Ag-0.5Cu球栅阵列封装器件,对封装后的电路板进行随机振动可靠性试验,采用X-Ray、SEM和EDX等测试确定焊点在随机振动试验过程中的失效机制,探讨焊点沿界面失效与镀层内P元素... 采用回流焊工艺在ENIG镀层印制电路板上组装289I/Os无铅Sn-3.0Ag-0.5Cu球栅阵列封装器件,对封装后的电路板进行随机振动可靠性试验,采用X-Ray、SEM和EDX等测试确定焊点在随机振动试验过程中的失效机制,探讨焊点沿界面失效与镀层内P元素的分布和含量的关系。在振动试验中失效和未失效的BGA焊点与镀层界面表现出类似的微观形貌,Ni层因被氧化腐蚀而在焊点截面形貌上出现"缺齿"痕迹,而在表面形貌图上此呈现黑色的氧化腐蚀裂纹。P在镀层表面的聚集对Ni的氧化腐蚀有促进作用,同时P的聚集也明显降低焊点结合界面的机械强度。Ni层的氧化和Ni层表面P元素的聚集是引发焊点沿焊点/镀层结合界面开裂的主要原因。 展开更多
关键词 化学镀 镀层 回流焊工艺 SNAGCU
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印制电路板用化学镀金工艺的研究进展 被引量:7
19
作者 吴道新 王毅玮 +2 位作者 肖忠良 杨荣华 姚文娟 《材料保护》 CAS CSCD 北大核心 2019年第6期108-115,178,共9页
化学镀金作为印制电路板表面处理工艺,能够提供可焊性、延展性和抗腐蚀性等良好的镀金层,因而被广泛关注和研究。综述了印刷电路板(PCB)上化学镀金的研究进展,介绍了化学镀金原理和化学镀金液组成,叙述了无氰镀金体系的发展,同时从PCB... 化学镀金作为印制电路板表面处理工艺,能够提供可焊性、延展性和抗腐蚀性等良好的镀金层,因而被广泛关注和研究。综述了印刷电路板(PCB)上化学镀金的研究进展,介绍了化学镀金原理和化学镀金液组成,叙述了无氰镀金体系的发展,同时从PCB镍金和镍钯金工艺的角度,分析了镀镍层、镀钯层和镀金层之间的相互影响,并对置换镀金和还原镀金进行了讨论,指出后者在生产效率和镀层质量上具有较大优势,并将逐渐取代置换镀金工艺。 展开更多
关键词 印制电路板 化学镀 无氰镀 化学镀 化学镀镀钯镀
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阻挡层的表面镀覆将走上主导地位 被引量:5
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作者 林金堵 《印制电路信息》 2015年第10期54-58,共5页
文章概要地评述了PCB表面涂覆层的发展过程,指出PCB表面涂覆层已走向具有"阻挡层"主导的年代。传统没有阻挡层的表面涂覆层会形成金属间互化物(IMC)或者扩散层等缺点,削弱连接盘的结合力而影响可靠性。采用有"阻挡层&qu... 文章概要地评述了PCB表面涂覆层的发展过程,指出PCB表面涂覆层已走向具有"阻挡层"主导的年代。传统没有阻挡层的表面涂覆层会形成金属间互化物(IMC)或者扩散层等缺点,削弱连接盘的结合力而影响可靠性。采用有"阻挡层"结构可避免金属间形成互化物和互相扩散,可稳定或提高焊接的结合力。化学镀镍浸金存在着明显的缺点,将被具有致密结构的阻挡层的化学镀镍浸钯浸金或化学镀镍-钯合金所取代。 展开更多
关键词 表面涂覆层 阻挡层 化学镀 属间互化物 化学镀浸钯浸 化学镀-钯合
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