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半导体物理
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摘要
2001987BiCMOS 结构中阱特性的研究[刊]/鲍荣生//微电子学.—1999,29(5).—331~335(AC)2001988重掺杂 P 型 Si<sub>1-x</sub>Ge<sub>x</sub> 层中少数载流子浓度的低温特性[刊]/张万荣//微电子学.—1999,29(5).
出处
《电子科技文摘》
2000年第2期23-23,共1页
Sci.& Tech.Abstract
关键词
半导体物理
微电子学
载流子浓度
低温特性
重掺杂
发光学
万荣
增刊
异质结构
少数
分类号
TN [电子电信]
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