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半导体物理

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摘要 2001987BiCMOS 结构中阱特性的研究[刊]/鲍荣生//微电子学.—1999,29(5).—331~335(AC)2001988重掺杂 P 型 Si<sub>1-x</sub>Ge<sub>x</sub> 层中少数载流子浓度的低温特性[刊]/张万荣//微电子学.—1999,29(5).
出处 《电子科技文摘》 2000年第2期23-23,共1页 Sci.& Tech.Abstract
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