CMOS电路内结点桥接故障的动态IDDQ可测性研究被引量：2

Dynamic IDDQ testable study of the internal- node bridging faults in CMOS circuit

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摘要采用了动态IDDQ测试方法来探讨静态CMOS电路桥接故障的可测性。 The method of the dynamic IDDQ testis used to the testable study of the internal-nodes bridging faults in static CMOScircuits,and the bridging faults in static CMOScircuits are all testable on the dynamic IDDQ testare proved.

作者张新林

机构地区零陵师范专科学校计算机系

出处《宝鸡文理学院学报（自然科学版）》 CAS 2000年第1期56-58,共3页 Journal of Baoji University of Arts and Sciences(Natural Science Edition)

关键词内结点动态IDDQ测试桥接故障 CMOS电路 internal-node dynamic IDDQ test bridging faul

分类号 TN432.07 [电子电信—微电子学与固体电子学] TN791.07

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宝鸡文理学院学报（自然科学版）

2000年第1期

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