期刊文献+

数字集成电路的测试与故障诊断方法 被引量:2

A New Method for the Test and Fault Diagnosis of Digital Integrated Circuits
下载PDF
导出
摘要 从桥接故障的两个特点出发,提出了一种快速盲测法,该法弥补了伪穷举法的不足。它既适用于组合逻辑电路、又适用于时序逻辑电路的短路故障测试。在6K型电力机车微机控制箱的测试与故障诊断过程中的成功应用,证实了该方法的有效性。 A new method according to two charateristics of bridging fault in presented.This method makes up for Pseudo exhaustive method and it is suitable for both combination logic circuit and sequential logic circuit.The example in the test and fault diagnosis of 6k electric locomotive proves that the method achieves good results.
机构地区 西南交通大学
出处 《太原工业大学学报》 1997年第3期87-91,共5页
关键词 桥接故障 故障测试 故障诊断 数字集成电路 bridging fault,fault testing,fault diagnosis
  • 相关文献

参考文献3

同被引文献4

  • 1阎石.数字电子技术基础(5版)[M].北京:高等教育出版社.2005. 被引量:3
  • 2Reggia J A. A formal model of diagnosis inference [J]. Information Science, 1985, 37:227 - 285. 被引量:1
  • 3Peng Y, Reggia J A. A probabilistic causal model for diagnostic problem solving - part Ⅱ : diagnostic strategy [ J ]. IEEE Trans. SMC, 1987,17(3) :395 - 406. 被引量:1
  • 4周继承,黎飞,肖庆中.数字电路故障诊断[J].应用科技,2008,35(2):29-32. 被引量:10

引证文献2

二级引证文献8

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部