摘要
ＩＤＤＱ（即静态电源电流）测试是近几年来国外比较流行的ＣＭＯＳ集成电路测试技术。ＩＤＤＱ测试能够检测出传统的固定值故障电压测试（即ＳＡＦ功能测试）所无法检测的ＣＭＯＳ集成电路内部的缺陷（如氧化层短路，穿通等），所以，能够明显提高ＣＭＯＳ集成电路的使用可靠性。本文叙述了ＩＤＤＱ测试的基本原理和ＩＤＤＱ测试在集成电路测试系统上的实现方法及测试实例。
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
1999年第1期38-42,共5页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
