空间辐射效应对微电子器件可靠性的影响及对策研究被引量：5

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摘要本文主要研究天然辐射环境和人为辐射环境对微电子器件可靠性的影响，出提高抗辐射能力的具体措施和改进结构设计的意见。

作者王长河

机构地区电子部第十三研究所

出处《电子产品可靠性与环境试验》 1998年第3期19-22,共4页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing

关键词微电子器件可靠性半导体器件 IC

分类号 TN306 [电子电信—物理电子学] TN406

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电子产品可靠性与环境试验

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