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工艺条件对直流磁控溅射沉积ITO薄膜光电特性的影响 被引量:5

Influence of Technological Factors on Electrical and Optical Properties of ITO Films Deposited by DC Magnetron Sputtering Method
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摘要 研究了采用直流磁控溅射法制备ITO透明导电膜时温度、靶材、氧压比、溅射气压、溅射速率等工艺条件对ITO膜电阻率和可见光透过率等光电特性的影响。实验结果表明,用ITO陶瓷靶溅射镀膜要比In-Sn合金靶好,特别是在电阻率上,前者要低一个数量级左右;并由实验结果得到,当温度330℃,氧氩比1/40,溅射气压0.45 Pa和溅射速率23 nm.min-1左右时,可获得薄膜电阻率1.8×10-4Ω.cm,可见光透过率80%以上的最佳光电特性参数。 The influence of technological factors on electrical and optical properties of ITO transparent conductive films prepared by DC magnetron sput-tering method was researched. These technological factors consist of the temperature, the target, theratio O2/ Ar, the sputtering pressure and the sputtering speed. The experimental results show that ITO target is better than In-Sn target (specially in resistivity), and when the temperature 330 ℃, the O2/Ar ratio 1/40, the sputtering pressure about 0.45 Pa, the sputtering speed about 23 nm·min^-1. The perfect electrical and optical parameters of the thin films with resistivity 1.8 × 10^-4 Ω·cm and visible light transmissivity beyond 80% are obtained.
作者 辛荣生 林钰
出处 《稀有金属》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第6期931-933,共3页 Chinese Journal of Rare Metals
基金 河南省科技攻关项目(0224380029)
关键词 磁控溅射 ITO膜 电阻率 透光率 magnetron sputtering ITO film resistivity transmissivity
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参考文献6

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