表面分析仪器和技术进展（二）——AES,EELS,LEED,ISS 被引量：2

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作者黄惠忠

出处《国外分析仪器技术与应用》 1996年第1期1-7,共7页 Foreign Analytical Instrumentation

关键词表面分析分析仪器技术进展综述

同被引文献46

1蒋建国.电子显微技术的现状与发展[J].扬州教育学院学报,2003,21(3):13-16. 被引量：5
2黄惠忠.表面分析仪器和技术进展（四）——STM[J].国外分析仪器技术与应用,1996(3):12-19. 被引量：5
3Omicron Multiprobe. A Family of Multi-Technique Surface Science Systems 被引量：1
4Fries T. Metrology in the Nanometer Range: A Status Report and Technical. Proceeding of Shanghai International Nanotechnology Cooperation Symposium, 2002: 33 被引量：1
5Surface Imaging Sysems. Ultra-objective Scanning Probe Microscopy for Optical Microscopes 被引量：1
6Leach R et al. Nanotechology, 2001, 12(1): R1-R6 被引量：1
7Shim J Y et al. Rev Sci Instru, 2001, 72(11):4183-4186 被引量：1
8SaurenbachF. SPM on Optical Microscopes: An Easy Access to Nano World. Proceeding of Shanghai International Nanotechnology Cooperation Symposium, 2002: 20-22 被引量：1
9Emundts A et al. Rev Sci Instru, 2001, 72(9): 3546-3549 被引量：1
10Fukushima K et al. Rev Sci Instru, 2002, 73(7): 2647-2650 被引量：1

1黄惠忠.表面分析仪器和技术进展（一）：XPS,UPS[J].国外分析仪器技术与应用,1995(4):10-19.
2刘德中,薛正鏐.三种实用表面分析仪器的一些进展[J].国外分析仪器技术与应用,1989(3):27-33.
3白春礼.原子力显微镜的研制及应用[J].中国科学院院刊,1990,5(4):340-343. 被引量：15
4黄惠忠.表面分析仪器与技术进展：———四,扫描探针显微术（SPM）（上）[J].国外分析仪器技术与应用,1999(1):9-26. 被引量：6
5ZHANG Xiaohu,GU Xianshang and XU Xiang 1) Hefei General Machinery Research Institute,Hefei 230031,China 2) China National Research Center on Pressure Vessel and Pipeline Safety Engineering,Hefei 230031,China.Recent development in standards of steels used for pressure vessels in China[J].Baosteel Technical Research,2010,4(S1). 被引量：3
6斯凯孚（SKF）中国大连轴承工厂荣获LEED金级认证[J].现代零部件,2013(10):16-16.
7黄惠忠.表面分析仪器和技术进展：（三）XPS／AES组合[J].国外分析仪器技术与应用,1998(4):13-18.
8黄惠忠.论表面分析[J].现代仪器,2002,38(1):5-10. 被引量：5
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10黄惠忠.表面分析仪器和技术进展（三）：SIMS,AFM[J].国外分析仪器技术与应用,1996(2):9-16. 被引量：1

国外分析仪器技术与应用

1996年第1期

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