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Determination of the parameters of a linear-viscoelastic thin layer using the normally-incident ultrasonic waves 被引量:1
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作者 姚桂锦 吕卫国 +3 位作者 宋若龙 崔志文 张香林 王克协 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2010年第7期350-357,共8页
This paper proposes a method of simultaneous determination of the four layer parameters (mass density, longitudinal velocity, the thickness and attenuation) of an immersed linear-viscoelastic thin layer by using the... This paper proposes a method of simultaneous determination of the four layer parameters (mass density, longitudinal velocity, the thickness and attenuation) of an immersed linear-viscoelastic thin layer by using the normally-incident reflected and transmitted ultrasonic waves. The analytical formula of the layer thickness related to the measured trans- mitted transfer functions is derived. The two determination steps of the four layer parameters are developed, in which acoustic impedance, time-of-flight and attenuation are first determined by the reflected transfer functions. Using the derived formula, it successively calculates and determines the layer thickness, longitudinal velocity and mass density by the measured transmitted transfer functions. According to the two determination steps, a more feasible and simplified measurement setups is described. It is found that only three signals (the reference waves, the reflected and transmitted waves) need to be recorded in the whole measurement for the determination of the four layer parameters. A study of the stability of the determination method against the experimental noises and the error analysis of the four layer parameters are made. This study lays the theoretical foundation of the practical measurement of a linear-viscoelastic thin layer. 展开更多
关键词 ultrasonic determination normally-incident reflected/transmitted waves layer parameters linear-viscoelastic thin layer
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AVO方法检测油气应用实例分析 被引量:33
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作者 王振国 陈小宏 +2 位作者 王学军 陈共青 陈玉明 《石油地球物理勘探》 EI CSCD 北大核心 2007年第2期194-197,共4页
在油气勘探中,利用AVO方法能提取多种岩性属性剖面,通过AVO交会图可确定气层范围,因此AVO方法是一种非常实用的油气检测方法。本文简要介绍了Zoeppritz方程的Aki等和Shuey等近似式的主要应用,即求取λρ属性剖面和μρ属性剖面、P波阻... 在油气勘探中,利用AVO方法能提取多种岩性属性剖面,通过AVO交会图可确定气层范围,因此AVO方法是一种非常实用的油气检测方法。本文简要介绍了Zoeppritz方程的Aki等和Shuey等近似式的主要应用,即求取λρ属性剖面和μρ属性剖面、P波阻抗剖面和S波阻抗剖面、法向入射反射系数剖面与梯度属性剖面,通过这三组剖面的交会图,可直观地分析油气层的位置。 展开更多
关键词 AVO方法 油气检测 λρ属性剖面 μρ属性剖面 法向入射反射系数属性剖面 梯度属性剖面 模型试验
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SV波入射情况下V型河谷地形对地震动的影响分析 被引量:10
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作者 刘必灯 周正华 +2 位作者 刘培玄 李小军 王伟 《地震工程与工程振动》 CSCD 北大核心 2011年第2期17-24,共8页
基于局部人工边界的显式有限元方法,给出了二维V型河谷地形在SV波垂直入射下地面运动数值解,并分析其地震动分布规律以及两侧不同的边坡角度对于地震动分布规律的影响。数值结果表明:谷底的角点、两岸靠近河谷的点、两侧谷坡靠近谷底的... 基于局部人工边界的显式有限元方法,给出了二维V型河谷地形在SV波垂直入射下地面运动数值解,并分析其地震动分布规律以及两侧不同的边坡角度对于地震动分布规律的影响。数值结果表明:谷底的角点、两岸靠近河谷的点、两侧谷坡靠近谷底的点以及靠近两岸的点,对地表位移有放大作用,而对其邻近区域地表位移有抑制作用。这是由于角点处存在面的相交和转化,使角点处和角点附近波的散射更为复杂,故波形转换更加强烈,并且以其为中心有一定的影响区域,越靠近这些角点波形转换越为强烈。峰值结果、传递函数结果和观测点质点运动轨迹结果都显示了这一规律。整体而言,右岸和右坡坡顶附近波形转换要比左岸明显得多,且对应两侧河岸相同的X向位移峰值,左侧河岸的影响范围要比右侧的影响范围大,这可能是因为右坡坡度更大导致波形转换要更强所致。两侧河岸质点运动轨迹最终都呈现逆进运动轨迹,有些观测点的逆进椭圆轨迹较明显,这可能是由于在河岸处SV波转换成面波所致。 展开更多
关键词 V型河谷 SV波垂直入射 传递函数 波形转换 质点运动轨迹 逆进椭圆
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周作人年谱长编:1925年(下)
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作者 朱晓江 《杭州师范大学学报(社会科学版)》 2024年第4期63-77,114,共16页
8月,北大学生会“因章士钊摧残一般教育及女师大事”,提请“本校宣布与教育部脱离关系”。18日,北大评议员召集会议,议决“以本会名义宣布不承认章士钊为教育总长,拒绝收受章士钊签署之教育部文件”,引发胡适、高一涵、皮宗石、王世杰... 8月,北大学生会“因章士钊摧残一般教育及女师大事”,提请“本校宣布与教育部脱离关系”。18日,北大评议员召集会议,议决“以本会名义宣布不承认章士钊为教育总长,拒绝收受章士钊签署之教育部文件”,引发胡适、高一涵、皮宗石、王世杰、丁燮林、王星拱等之反对。28日,北大乃又召集评议会、教务会联席会议商讨,意见分歧如故。次日,《北京大学日刊》分别发表由胡适等17人签署的《为北大脱离教部关系事致本校同事的公函》,以及由周氏等17人签署的《为反对章士钊事致本校同事的公函》,又发表由周氏等41人签署的《反对章士钊宣言》。此中国知识界内部之一大分裂也。由此而至明年之“三·一八”事件,周氏日后省思,正乃中国知识分子斗争史之一转捩点。 展开更多
关键词 周作人 章士钊 女师大事件 知识分子
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周作人年谱长编:1925年(上)
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作者 朱晓江 《杭州师范大学学报(社会科学版)》 2024年第3期52-70,共19页
1925年,女师大事件持续恶化,进而引发中国知识界内部之严重分裂。5月27日,周氏等六教授发表《对于北京女子师范大学风潮的宣言》,30日,陈源即在其《闲话》中批评,以为“女师大的风潮,有在北京教育界占最大势力的某籍某系的人在暗中鼓动... 1925年,女师大事件持续恶化,进而引发中国知识界内部之严重分裂。5月27日,周氏等六教授发表《对于北京女子师范大学风潮的宣言》,30日,陈源即在其《闲话》中批评,以为“女师大的风潮,有在北京教育界占最大势力的某籍某系的人在暗中鼓动”。周、陈之间立场殊异,进一步带动了《语丝》社和《现代评论》派之间的对立。五月,爆发“五卅运动”,周氏一面积极加入北大教职员沪案后援会工作,另一面又著文反省群众运动之流弊,以为“从五四运动的往事中看出幻妄的教训,以为(1)有公理无强权,(2)群众运动可以成事:这两条迷信成立以后,近四年中遂无日不见大同盟小同盟之设立,凭了檄,代电,宣言,游行之神力想去解决一切的不自由不平等,把思想改造实力养成等事放在脑后”。通过此类表述,周氏自身之思想根基,乃基本树立起来;而其思想面貌,亦渐趋明朗而稳固。 展开更多
关键词 周作人 女师大事件 五卅运动 《语丝》 《现代评论》
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湖畔风云——经亨颐与浙江五四新文化运动(下) 被引量:2
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作者 徐佳贵 《杭州师范大学学报(社会科学版)》 CSSCI 2019年第3期33-55,共23页
1919年夏秋之际,浙省教育界领导层开始在京、沪等地教育界的影响下,淡化五四反日运动的"插曲"性质,并将之用以促进"新潮"的后续展开。这在话语与认知上造成的结果,却是使"政学"与"新旧"两个问... 1919年夏秋之际,浙省教育界领导层开始在京、沪等地教育界的影响下,淡化五四反日运动的"插曲"性质,并将之用以促进"新潮"的后续展开。这在话语与认知上造成的结果,却是使"政学"与"新旧"两个问题在全国与杭州地方都开始合并为一个问题。部分省校学生在对汹涌而入的"新思想"缺乏辨析意识的情况下,同样积极参与这一兼及政治与思想文化层面的二元对立建构,进而爆发出了许多老辈始料未及的、持久的战斗性。但在另一面,从《非孝》事件到留经运动,与事各方的人员与策略事实上都有变动调整;"新文化运动"的旗帜愈趋鲜明,内容所指却更为笼统,斗争形式则又更显激烈,浙江尤其是杭州据此对于全国性的"新文化运动"作出了自己独特的贡献。 展开更多
关键词 经亨颐 一师风潮 浙江省教育会 五四运动 新文化运动
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弱磁场中向列相液晶TEB30A薄膜自衍射现象研究 被引量:2
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作者 刘桂香 王雁冰 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2016年第6期547-552,共6页
采用1.5mW低功率的He-Ne激光(632.8nm)正入射向列相液晶TEB30A薄膜,研究向列相液晶TEB30A薄膜在不同强度的弱磁场(0、0.464 9、0.506 2和0.518 5T)中的远场衍射特性。实验结果表明,向列相液晶TEB30A薄膜在4种不同强度的弱磁场(0,0.464 9... 采用1.5mW低功率的He-Ne激光(632.8nm)正入射向列相液晶TEB30A薄膜,研究向列相液晶TEB30A薄膜在不同强度的弱磁场(0、0.464 9、0.506 2和0.518 5T)中的远场衍射特性。实验结果表明,向列相液晶TEB30A薄膜在4种不同强度的弱磁场(0,0.464 9,0.506 2和0.518 5T)中都能产生远场衍射。衍射图样会随磁场强度的增加而发生明显的变化。衍射环的数目增加,衍射环宽度变宽,衍射场向外拓展。当磁场强度为0.506 2T时,衍射环上出现了近似相互平行的干涉直条纹。当磁场强度达到0.518 5T时,干涉直条纹更加明显的趋于平行。在弱磁场的作用下,激光束在远场的散度变得明显。基于Kirchhoff-Fraunhofer衍射积分原理的理论模拟结果表明,当激光通过处在弱磁场中的向列相液晶TEB30A薄膜时,横向非线性相移会增大。随着弱磁场强度由0T增加到0.518 5T,非线性相移也由4π增加到20π。弱磁场引起样品非线性相移增大,导致其远场衍射图样发生了变化。远场衍射光强图样的变化也是透射光能量分布的改变,因此,可将弱磁场调控向列相液晶这一技术应用于磁控光开关及光限幅等领域。 展开更多
关键词 低功率 正入射 向列相液晶TEB30A薄膜 弱磁场 衍射
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各向异性表面近正入射反射米勒矩阵 被引量:1
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作者 周军 谢云启 《常熟高专学报》 2000年第2期46-48,54,共4页
以米勒矩阵理论为基础,推导出了各向异性表面近正入射反射米勒矩阵,该矩阵对于反射差别谱系统的设计、分析与优化等方面将会起到积极作用.
关键词 米勒矩阵 各向异性表面 近正入射反射 偏振
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n型AlAs/GaAlAs量子阱子带间正入射吸收跃迁振子强度 被引量:1
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作者 徐文兰 傅英 M.Wilander 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1997年第2期86-92,共7页
对n型电子有效质量各向异性半导体量子阱,给出了子带间正入射吸收的振子强度解析表达式.这种子带间的跃迁有束缚基态到束缚的激发态的,有束缚基态到扩展的激发态的.以AlAs/GaAlAs为例研究了量子阱生长方向。
关键词 量子阱 红外材料 正入射吸收 振动强度 半导体
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AVO交绘图划分岩石基性
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作者 沈晓昱 张宪旭 +1 位作者 余洋 史云鹤 《内蒙古石油化工》 CAS 2009年第2期92-93,共2页
AVO属性交绘图是解释岩性和孔隙流体异常的一个十分重要的工具。与其他的交绘图有所不同,AVO理论分析中包含了横波的信息,这就相当于纵、横波联合反演。文章利用垂直入射反射率和泊松反射率交绘图,使不同S iO2含量的岩石落在交绘图的不... AVO属性交绘图是解释岩性和孔隙流体异常的一个十分重要的工具。与其他的交绘图有所不同,AVO理论分析中包含了横波的信息,这就相当于纵、横波联合反演。文章利用垂直入射反射率和泊松反射率交绘图,使不同S iO2含量的岩石落在交绘图的不同位置,成功的区分了中下地壳变质岩的基性。 展开更多
关键词 AVO技术 交绘图 垂直入射反射率 泊松反射率 SIO2含量
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