基于交替与连续长度码的有效测试数据压缩和解压 被引量：70

1

作者 梁华国 蒋翠云 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 2004年第4期548-554,共7页

提出了新一类的变 -变长度压缩码 ,称之为交替与连续长度码 .该文在测试序列中直接编码连续的“0”和“1”以及交替变化位的长度 ,压缩一个预先计算的测试集 ,无需像其它文章中受限制仅仅编码连续的“0” .这种交替与连续长度码由两部... 提出了新一类的变 -变长度压缩码 ,称之为交替与连续长度码 .该文在测试序列中直接编码连续的“0”和“1”以及交替变化位的长度 ,压缩一个预先计算的测试集 ,无需像其它文章中受限制仅仅编码连续的“0” .这种交替与连续长度码由两部分组成 ,即交替和连续部分 .它的解压体系结构是一个简单的有限状态机并且不需要一个分离的循环扫描移位寄存器 .试验结果显示 ,这种编码能够有效地压缩测试数据 ,并且更优于Golomb和FDR码对输入数据流中的变化压缩 . 展开更多

关键词 测试集编码 变-变长度码 数据压缩 数据解压 内建自测试

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低温共烧陶瓷微波多芯片组件 被引量：23

2

作者 严伟 洪伟 薛羽 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第5期711-714,共4页

低温共烧陶瓷 (LTCC)是实现小型化、高可靠微波多芯片组件 (MMCM)的一种理想的组装技术 .本文研究采用了一种三维LTCC微波传输结构 ,并采用叠层通孔实现垂直微波互连 .利用电磁场分析软件对三维微波传输结构和垂直微波互连方式进行了模... 低温共烧陶瓷 (LTCC)是实现小型化、高可靠微波多芯片组件 (MMCM)的一种理想的组装技术 .本文研究采用了一种三维LTCC微波传输结构 ,并采用叠层通孔实现垂直微波互连 .利用电磁场分析软件对三维微波传输结构和垂直微波互连方式进行了模拟和优化 ,并与试验样品的测试结果进行了对比 ,两者吻合较好 .介绍了单片微波集成电路芯片测试和微波多芯片组件键合互连方法 。 展开更多

关键词 低温共烧陶瓷 微波多芯片组件 微电子

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应用Variable-Tail编码压缩的测试资源划分方法 被引量：27

3

作者 韩银和 李晓维 +1 位作者 徐勇军 李华伟 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第8期1346-1350,共5页

测试资源划分是降低测试成本的一种有效方法 .本文提出了一种新的有效的对测试数据进行压缩的编码 :Variable Tail编码 ,并构建了基于该编码的测试资源划分方案 .文章的理论分析和实验研究表明了采用Variable Tail编码能取得比Golomb编... 测试资源划分是降低测试成本的一种有效方法 .本文提出了一种新的有效的对测试数据进行压缩的编码 :Variable Tail编码 ,并构建了基于该编码的测试资源划分方案 .文章的理论分析和实验研究表明了采用Variable Tail编码能取得比Golomb编码更高的压缩率 ,针对多种模式下的测试向量均能提供很好的压缩效果 ,解码器的硬件也较易实现 .文章还提出了一种整合不确定位动态赋值的测试向量排序算法 ,该算法可以进一步提高测试压缩率 .文章最后用实验数据验证了所提编码和排序算法的高效性 . 展开更多

关键词 Variable-Tail编码 Golomb编码 可适应性 测试模式 诊断模式

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基于神经网络的组合电路测试生成算法 被引量：13

4

作者 刘晓东 孙圣和 《哈尔滨工业大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第2期255-257,共3页

介绍了一种基于神经网络的组合电路测试生成算法 .该算法不同于传统的方法是它既不需要回退也不需要故障传播的过程 .利用Hopfield神经网络模型将组合电路表示成双向的神经网络 ,通过故障注入 ,建立被测电路的约束网络 ,并构造网络的能... 介绍了一种基于神经网络的组合电路测试生成算法 .该算法不同于传统的方法是它既不需要回退也不需要故障传播的过程 .利用Hopfield神经网络模型将组合电路表示成双向的神经网络 ,通过故障注入 ,建立被测电路的约束网络 ,并构造网络的能量函数 ,将组合电路的测试矢量对应于神经网络能量函数的最小值点 ,从而运用遗传算法求解能量函数的最小值点来求得测试矢量 .在一些基准电路上的实验结果表明本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试时间 . 展开更多

关键词 神经网络 组合电路 测试生成算法 遗传算法 集成电路

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0.18μm CMOS 10Gb/s光接收机限幅放大器 被引量：10

5

作者 金杰 冯军 +1 位作者 盛志伟 王志功 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第8期1393-1395,共3页

利用TSMC 0 18μmCMOS工艺设计了应用于SDH系统STM 6 4 (10Gb/s)速率级光接收机中的限幅放大器 .该放大器采用了改进的Cherry Hooper结构以获得高的增益带宽积 ,从而保证限幅放大器在 10Gb/s以及更高的速率上工作 .测试结果表明 ,此限... 利用TSMC 0 18μmCMOS工艺设计了应用于SDH系统STM 6 4 (10Gb/s)速率级光接收机中的限幅放大器 .该放大器采用了改进的Cherry Hooper结构以获得高的增益带宽积 ,从而保证限幅放大器在 10Gb/s以及更高的速率上工作 .测试结果表明 ,此限幅放大器在 10Gb/s速率上 ,输入动态范围为 4 2dB(3 2mV～ 5 0 0mV) ,5 0Ω负载上的输出限幅在 2 5 0mV ,小信号输入时的最高工作速率为 12Gb/s.限幅放大器采用 1 8V电源供电 ,功耗 110mW .芯片的面积为0 7mm× 0 9mm . 展开更多

关键词 STM-64 光接收机 限幅放大器 Cherry-Hooper结构 0.18μm CMOS工艺

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集成电路测试数据的分析与应用研究 被引量：7

6

作者 张奇 《集成电路应用》 2019年第6期31-33,共3页

随着集成电路技术的不断进步,集成电路器件在工业科技领域的应用不断增长。为保证集成电路企业输出质量上乘、品质优良的产品,对集成电路器件测试的要求也不断提高。通过对集成电路测试中测试数据、测试向量、测试结果等测试文件处理和... 随着集成电路技术的不断进步,集成电路器件在工业科技领域的应用不断增长。为保证集成电路企业输出质量上乘、品质优良的产品,对集成电路器件测试的要求也不断提高。通过对集成电路测试中测试数据、测试向量、测试结果等测试文件处理和分析研究,对于应用到集成电路设计、制造等关键环节具有十分重要的技术意义和经济意义。 展开更多

关键词 集成电路测试 测试数据 分析与应用

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仪表放大器参数特性分析与测试方法研究 被引量：3

7

作者 何忠名 赵彦飞 +2 位作者 李明明 于望 刘江城 《仪器仪表用户》 2023年第12期104-108,82,共6页

仪表放大器在各个测量系统中均有着十分广泛的应用,对其进行测试和筛选能够有效地剔除其中的不合格品和早期失效产品,防止给系统造成进一步损失。目前仪表放大器暂无相应的测试标准,通常将其作为运算放大器接入运放环中进行测试,导致部... 仪表放大器在各个测量系统中均有着十分广泛的应用,对其进行测试和筛选能够有效地剔除其中的不合格品和早期失效产品,防止给系统造成进一步损失。目前仪表放大器暂无相应的测试标准,通常将其作为运算放大器接入运放环中进行测试,导致部分电性能参数难以测试和筛选。本文通过对仪表放大器的结构原理和参数特性进行分析研究后,提出了一种基于ATE与外接高精度数字多用表联合测试的方法。实验结果表明,该方法能够实现仪表放大器较为全面且高精度的测试,在元器件质量与可靠性保证方面具有良好的应用价值。 展开更多

关键词 仪表放大器 参数特性 ATE 集成电路测试

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一种可多功能应用的芯片测试验证平台设计 被引量：2

8

作者 王婷婷 吴会祥 葛秀梅 《集成电路应用》 2023年第5期36-37,共2页

阐述测试验证平台可实现快速安全的管脚检测与功能测试,测试结果通过串口输出表格化信息,便于观察测试结果与故障判断,可节约测试时间。

关键词 集成电路测试 多功能应用 测试验证平台

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基于ATE的高端图像传感器芯片测试技术 被引量：6

9

作者 罗斌 《集成电路应用》 2019年第8期66-68,共3页

针对移动智能终端、安防监控、高清影像、航天航空等领域高端图像传感芯片产品测试需求,搭建基于自动测试设备ATE的测试环境。研究开发光电测试激励源硬件设计技术、图像传感芯片关键参数测试技术及测试算法。解决White Balance、Shadin... 针对移动智能终端、安防监控、高清影像、航天航空等领域高端图像传感芯片产品测试需求,搭建基于自动测试设备ATE的测试环境。研究开发光电测试激励源硬件设计技术、图像传感芯片关键参数测试技术及测试算法。解决White Balance、Shading、Sensitivity,Point Defect、Blotch Defect、FPN等图像传感芯片关键参数测试难点,实现相关参数精准测试,形成整体测试解决方案,实际使用ATE针对一款高集成度图像传感芯片进行测试验证,完成光敏感度、暗场电流、坏点、坏列、固定图形噪声(FPN)、ADC性能、DSP性能等测试,形成基于ATE的高集成系统级芯片一体化测试解决方案。 展开更多

关键词 集成电路测试 激励源硬件 光特性参数测试 系统级芯片

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集成电路测试数据分析系统的设计与实现

10

作者 陈光胜 《集成电路应用》 2024年第2期52-56,共5页

阐述集成电路芯片测试数据治理的关键因素,探讨测试数据大规模化、测试数据多样性、测试数据一致性所面临的技术挑战,从而全面了解集成电路测试数据的数据质量重要性。通过案例分析,提出有效的实施策略。同时,围绕集成电路测试数据所面... 阐述集成电路芯片测试数据治理的关键因素,探讨测试数据大规模化、测试数据多样性、测试数据一致性所面临的技术挑战,从而全面了解集成电路测试数据的数据质量重要性。通过案例分析,提出有效的实施策略。同时,围绕集成电路测试数据所面临的数据质量问题,挖掘数据质量特征,通过数据质量的主要评价标准及技术效果,提出和实施可行的数据治理方案。 展开更多

关键词 集成电路测试 测试数据分析 数据质量 数据质量特征

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集成电路测试行业现状分析及建议

11

作者 尹航 宋璇 赵梦晗 《中国标准化》 2024年第13期251-254,共4页

集成电路测试是集成电路产业链中不可或缺的环节,集成电路测试能够有效保障产品的质量和性能,目前国内集成电路测试行业发展迅猛,但是和国外相比仍有一定差距。本文分析当前集成电路测试行业现状及发展趋势,剖析集成电路测试行业存在的... 集成电路测试是集成电路产业链中不可或缺的环节,集成电路测试能够有效保障产品的质量和性能,目前国内集成电路测试行业发展迅猛,但是和国外相比仍有一定差距。本文分析当前集成电路测试行业现状及发展趋势,剖析集成电路测试行业存在的问题。当前集成电路测试行业市场集中度、资源利用率、行业透明度均不高,缺少高端人才,行业内企业的融资能力较弱。针对存在的问题提出相应建议,加强测试能力的规划布局、加快关键测试能力的建设、培育和增强核心竞争力、创新行业人才培养模式和加大财税金融支持力度。 展开更多

关键词 集成电路测试 产业链 行业现状 发展趋势 建议措施

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基于LK8820平台的DAC0832芯片电参数环境适应性测试方法分析 被引量：2

12

作者 乔倩 《集成电路应用》 2023年第7期46-47,共2页

阐述DAC0832芯片在LK8820测试平台的测试方法,采用测试电路和专用函数完成对该芯片的电参数环境适应性的测试,从而为提高芯片测试效率提供技术支持。

关键词 集成电路测试 LK8820测试平台 环境适应性

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集成电路测试新工科人才产教融合培养模式探索与实践

13

作者 潘成亮 夏豪杰 +3 位作者 黄亮 魏永清 张连生 侯毅 《高教学刊》 2024年第20期51-54,共4页

集成电路测试是集成电路设计制造产业中的重要环节。针对目前国内集成电路测试行业专门技术人才紧缺的现实需求,合肥工业大学联合国内外集成电路产业知名企业,从课程教学内容与教学方法、实验平台建设与实验设计、创新能力培养与学科竞... 集成电路测试是集成电路设计制造产业中的重要环节。针对目前国内集成电路测试行业专门技术人才紧缺的现实需求,合肥工业大学联合国内外集成电路产业知名企业,从课程教学内容与教学方法、实验平台建设与实验设计、创新能力培养与学科竞赛等环节入手,在仪器类专业探索现阶段适合于集成电路测试新工科人才培养的校企合作办学模式。近年来,在集成电路测试课程体系完善、实验平台建设、实践环节培养等方面均取得较好的成果,为新工科人才产教融合培养提供实践经验和参考案例。 展开更多

关键词 集成电路测试 新工科 仪器类专业 产教融合 创新能力

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基于断言的模拟矢量自动生成方法 被引量：4

14

作者 李暾 郭阳 李思昆 《软件学报》 EI CSCD 北大核心 2004年第10期1441-1450,共10页

VLSI模拟验证的一个关键问题是需要大量的模拟矢量来验证各种可能情况下设计的正确性.采用断言作为模拟验证的功能模型,提出和实现了一种基于断言的模拟矢量自动生成方法.针对要触发的断言,首先对设计进行化简,通过决策图模型将初始输... VLSI模拟验证的一个关键问题是需要大量的模拟矢量来验证各种可能情况下设计的正确性.采用断言作为模拟验证的功能模型,提出和实现了一种基于断言的模拟矢量自动生成方法.针对要触发的断言,首先对设计进行化简,通过决策图模型将初始输入传播到断言,并将传播过程和断言条件一起转化成CLP约束,最后求解CLP约束生成模拟矢量.该方法的优势在于运用了字级(word-level)约束求解技术,能统一处理控制电路和数据通路间的数据传播,求解效率高;基于功能模型的模拟矢量生成技术,模拟矢量生成目标更明确;与动态加速技术相结合,使搜索过程效率更高;设计化简技术的运用使搜索过程计算复杂度只与断言有关.实验结果表明,该方法能快速找到并定位设计中的错误,生成模拟矢量效率更高. 展开更多

关键词 VLSI 断言 模拟矢量自动生成

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基于XGBoost的模拟集成电路测试参数优化方法 被引量：1

15

作者 肖寅东 曾宇通 +1 位作者 刘科 胡聪 《电子测量与仪器学报》 CSCD 北大核心 2023年第4期61-68,共8页

随着集成电路的规模不断扩大,其测试成本随测试时间的增长而不断提高,如何优化测试参数是一个重要课题。模拟集成电路测试中,测试参数间存在非线性隐式依赖,使得直接揭示其相互关系并进行测试方法优化非常困难。本文基于XGBoost决策树... 随着集成电路的规模不断扩大,其测试成本随测试时间的增长而不断提高,如何优化测试参数是一个重要课题。模拟集成电路测试中,测试参数间存在非线性隐式依赖,使得直接揭示其相互关系并进行测试方法优化非常困难。本文基于XGBoost决策树模型提出了一种优化模拟集成电路测试参数数目的方法,该方法探索不同测试参数间的相互表征能力,在测试序列中依次删减可被良好表达的测试参数,在保证一定逃逸率的条件下达到缩短测试时间的目的。本文讨论了故障数目、特征重要性和SHAP值3种评估测试参数间表征能力的指标,并对两类模拟集成电路测试数据集进行了实验,结果表明故障数目是一种优秀的评估指标,可在测试逃逸率不超过20 PPM的条件下实现25%的测试参数优化。 展开更多

关键词 机器学习 XGBoost 集成电路测试 测试成本 测试逃逸

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集成电路测试课程的企业教培模式分析 被引量：1

16

作者 程任翔 顾泽杨 《集成电路应用》 2023年第6期390-392,共3页

阐述集成电路测试课程的特点,集成电路测试教学中的问题,探讨课程教学与产业发展相融合,包括树立职业目标、采用企业教培模式、以实际工作需求为导向,以项目实践驱动课程教学。通过整合、调试器件工艺参数使学生直观地掌握工艺对参数的... 阐述集成电路测试课程的特点,集成电路测试教学中的问题,探讨课程教学与产业发展相融合,包括树立职业目标、采用企业教培模式、以实际工作需求为导向,以项目实践驱动课程教学。通过整合、调试器件工艺参数使学生直观地掌握工艺对参数的影响,参数反馈对工艺的控制。 展开更多

关键词 集成电路测试 企业培训模式 校企融合

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齐纳修调优化在ATE测试中的应用

17

作者 朱刚俊 马培 《集成电路应用》 2023年第8期46-47,共2页

阐述芯片设计制造中的齐纳修调(Zenor Trim)原理,探讨一种齐纳修调的自动化修调及优化方法,此方法适用于芯片ATE测试中的CP测试和FT测试。

关键词 集成电路测试 齐纳修调 ATE测试

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静态真空液氮管道运用于芯片低温测试领域的改进方案分析

18

作者 蒋晨瑜 《集成电路应用》 2023年第4期38-40,共3页

阐述通过对静态真空液氮管道系统的改进,避免管道夹层漏放气速率增加导致表面结露、结冰后产生的凝结水滴落,造成低温测试机器损坏的风险,解决排气不通畅造成低温不稳定的问题,对芯片低温测试领域液氮输送系统提供有效方案。

关键词 集成电路测试 存储芯片 低温测试 液氮输送 真空管道 静态真空 排气

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C8051F系列混合信号MCU测试方法与实现

19

作者 杨超 金荣康 +1 位作者 张金凤 吴迪 《集成电路应用》 2023年第7期22-25,共4页

阐述C8051F系列MCU测试程序的设计方法,包括测试程序和软硬件方案、通信协议制定规则、配置程序编写方法,基于EVA-100实现C8051F330测试程序,在此基础上进行扩展,探讨整个系列MCU测试程序的扩展方案。

关键词 集成电路测试 C8051F330 MCU 通信协议 EVA-100

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基于ZYNQ的通用集成电路测试系统设计

20

作者 魏江杰 张竣昊 孙碧垚 《集成电路应用》 2023年第7期28-30,共3页

阐述基于ZYNQ的通用集成电路测试系统设计,可以根据集成电路的实际需求,满足集成电路在扫描链功能测试、通用接口通信功能测试的双重需求,可以实现对多种通用芯片的关键参数进行测试。在测试阶段,降低了测试成本,系统有比较好的复用性。

关键词 集成电路测试 ZYNQ 扫描链 复用性

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