摘要
阐述DAC0832芯片在LK8820测试平台的测试方法,采用测试电路和专用函数完成对该芯片的电参数环境适应性的测试,从而为提高芯片测试效率提供技术支持。
This paper describes the testing method of DAC0832 chip on the LK8820 testing platform, using testing circuits and specialized functions to test the adaptability of the chip's electrical parameters to the environment, thereby providing technical support for improving chip testing efficiency.
作者
乔倩
QIAO Qian(Shanxi Engineering Vocational College,Shanxi 030001,China)
出处
《集成电路应用》
2023年第7期46-47,共2页
Application of IC
基金
2022年度山西省高等学校科技创新项目(2022L710)。
