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占空比对微球a-C:H薄膜制备的影响 被引量:11
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作者 张宝玲 何智兵 +2 位作者 吴卫东 刘兴华 杨向东 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2009年第9期6436-6440,共5页
采用低压等离子体化学气相沉积方法(LPPCVD),以反式二丁烯(T2B)和氢气(H2)为工作气体,利用间歇跳动模式在微球表面制备30μm厚a-C:H涂层.利用原子力显微镜(AFM)和X射线照相技术对涂层表面形貌及壁厚均匀性进行表征,结果表明:随占空比减... 采用低压等离子体化学气相沉积方法(LPPCVD),以反式二丁烯(T2B)和氢气(H2)为工作气体,利用间歇跳动模式在微球表面制备30μm厚a-C:H涂层.利用原子力显微镜(AFM)和X射线照相技术对涂层表面形貌及壁厚均匀性进行表征,结果表明:随占空比减小,制备出的微球a-C:H薄膜表面粗糙度呈下降趋势,而壁厚均匀性随占空比的减小变化不明显;当占空比为1/5时,在直径为(280±50)μm的聚乙烯醇-聚苯乙烯(PVA-PS)双层球表面制备出30μm厚的a-C:H涂层,表面均方根粗糙度(RMS)低于30 nm;占空比为1/7时,不能维持微球的稳定跳动. 展开更多
关键词 微球 a-c:h薄膜 粗糙度 壁厚均匀性
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含氢无定型碳摩擦转移膜结构演化规律研究 被引量:8
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作者 宁可心 王鹏 +2 位作者 江海霞 王毅 柴利强 《摩擦学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第4期484-492,共9页
利用中频磁控溅射系统制备a-C:H润滑薄膜,并使用球-盘摩擦机考察了空气和干燥氮气(N_(2))氛围中a-C:H薄膜摩擦行为的差异,讨论了随着摩擦时间增加,薄膜上磨痕及Al_(2)O_(3)对偶球上转移膜的结构变化对摩擦行为的影响.试验结果显示:a-C:... 利用中频磁控溅射系统制备a-C:H润滑薄膜,并使用球-盘摩擦机考察了空气和干燥氮气(N_(2))氛围中a-C:H薄膜摩擦行为的差异,讨论了随着摩擦时间增加,薄膜上磨痕及Al_(2)O_(3)对偶球上转移膜的结构变化对摩擦行为的影响.试验结果显示:a-C:H薄膜在干燥氮气中摩擦具有比在空气中更低的摩擦系数和更长的磨损寿命.微观结构分析表明,转移膜可以起到降低摩擦的作用,在干燥氮气中,随着摩擦进行,Al_(2)O_(3)对偶球上逐渐形成具有典型DLC特征的碳转移膜并稳定地存在,这是摩擦性能进一步提高的原因.此外,在干燥氮气中摩擦,磨痕表面和对偶球上转移膜表面结构均趋于"石墨化".上述二者的共同作用使得a-C:H薄膜在N_(2)环境下比在空气中更低的摩擦磨损. 展开更多
关键词 a-c:h薄膜 转移膜 演化 摩擦磨损 石墨化
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a-C:H薄膜组成及结构 被引量:7
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作者 李芳 刘东平 甲翠英 《真空与低温》 2001年第2期85-88,96,共5页
含氢非晶碳(a-C∶H)薄膜主要由SP3C、SP2C 和H 3种“元素”组成,在它们的三 元相图中,a-C∶H 薄膜具有特定的组成区域。由于IR 分析法对SP3C/SP2C 分析存在着系 统误差,因而导致所得结构偏离该组成域。通过对IR 法的结果分析发现,SP... 含氢非晶碳(a-C∶H)薄膜主要由SP3C、SP2C 和H 3种“元素”组成,在它们的三 元相图中,a-C∶H 薄膜具有特定的组成区域。由于IR 分析法对SP3C/SP2C 分析存在着系 统误差,因而导致所得结构偏离该组成域。通过对IR 法的结果分析发现,SP3C 含量偏高, SP2C含量偏低;a-C∶H 薄膜中SP2C 主要以非质子化形式存在,其含量可高达67 %;质子 化的SP2C仅占SP2C 总量的10 %左右。a-C∶H 薄膜是受到较高约束的空间立体网络结构。 展开更多
关键词 a-c:h薄膜 IR分析法 网络结构 非晶碳氢薄膜 组成
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γ辐照对a-C:H薄膜微观组织、力学性能及摩擦学性能的影响 被引量:3
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作者 柴利强 宁可心 +2 位作者 乔丽 王鹏 翁立军 《摩擦学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第2期169-175,共7页
近年来随着核能及其核装备的发展,辐照环境下高能粒子对润滑材料服役行为的影响受到越来越多的关注.本研究利用自行设计研制的磁控溅射系统制备a-C:H润滑薄膜,并对其进行伽马(γ)辐照处理.考察γ辐照康普顿效应对a-C:H薄膜微观组织、力... 近年来随着核能及其核装备的发展,辐照环境下高能粒子对润滑材料服役行为的影响受到越来越多的关注.本研究利用自行设计研制的磁控溅射系统制备a-C:H润滑薄膜,并对其进行伽马(γ)辐照处理.考察γ辐照康普顿效应对a-C:H薄膜微观组织、力学性能和摩擦学性能的影响.结果表明:经γ辐照后a-C:H薄膜存在由sp^(2)杂化C原子结构向sp^(3)杂化C原子结构转变的趋势,且辐照使得C-H键发生断裂,薄膜内H原子的键合能降低.伽马辐照使得aC:H薄膜的纳米机械性能显著提高,辐照样品的残余应力也随辐照剂量呈增加趋势.此外,γ辐照也使得a-C:H薄膜的摩擦系数和磨损率轻微增加.综合分析可知,γ辐照在测试剂量范围内对a-C:H薄膜的摩擦性能影响有限,但辐照诱发应力的增加是限制其在核环境中应用的主要因素. 展开更多
关键词 Γ辐照 a-c:h薄膜 微观组织 力学性能 摩擦磨损
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液相电沉积类金刚石薄膜的组成及结构分析 被引量:2
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作者 江河清 黄丽娜 +2 位作者 张治军 徐洮 刘维民 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第5期560-562,共3页
 利用液相电沉积的方法,从乙腈中在硅片上沉积非晶碳薄膜,首次发现了电流密度随反应时间呈波动变化的规律。红外光谱和拉曼光谱分析表明所得薄膜是一种典型的含氢类金刚石薄膜(a C∶H薄膜),并用高斯分解的方法对非晶碳薄膜的拉曼光谱和...  利用液相电沉积的方法,从乙腈中在硅片上沉积非晶碳薄膜,首次发现了电流密度随反应时间呈波动变化的规律。红外光谱和拉曼光谱分析表明所得薄膜是一种典型的含氢类金刚石薄膜(a C∶H薄膜),并用高斯分解的方法对非晶碳薄膜的拉曼光谱和X射线光电子能谱进行定量分析,从而确定这种a C∶H薄膜中sp3的相对含量为30%~35%。 展开更多
关键词 液相电沉积 a-c:h薄膜 RAMAN光谱 XPS 高斯分解
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基于动力学标度法的a-C:H薄膜表面微观形貌的演变机理研究 被引量:2
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作者 张玲 陈果 +4 位作者 何小珊 艾星 何智兵 刘磊 唐永建 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第4期740-746,共7页
采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)方法在Si(111)基底上制备a-C:H薄膜,利用原子力显微镜(AFM)和扫描电子显微镜(SEM)对a-C:H薄膜的表面形貌与表面粗糙度进行表征,并从动力学标度法角度出发讨论a-C:H薄膜表面粗糙度的演变机理。研究... 采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)方法在Si(111)基底上制备a-C:H薄膜,利用原子力显微镜(AFM)和扫描电子显微镜(SEM)对a-C:H薄膜的表面形貌与表面粗糙度进行表征,并从动力学标度法角度出发讨论a-C:H薄膜表面粗糙度的演变机理。研究结果表明:a-C:H薄膜表面微观形貌为自仿射分形表面,可用分形维数来评价薄膜的表面粗糙度;随着H_2流量的增加,薄膜表面粗糙度先减小后增大,在T_2B与H_2流量比为0.2/6时,a-C:H薄膜的表面粗糙度R_q为2.2nm,相对于其他条件下生长的薄膜的表面粗糙度低,薄膜表面较光滑,致密性良好。 展开更多
关键词 a-c:h薄膜 表面粗糙度 分形维数 原子力显微镜 扫描电子显微镜
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直流反应磁控溅射沉积a-C:H薄膜的微结构和摩擦磨损行为 被引量:2
7
作者 刘龙 周升国 +2 位作者 王跃臣 刘正兵 马利秋 《有色金属科学与工程》 CAS 2016年第1期41-47,共7页
采用直流的反应磁控溅射技术,以高纯石墨为溅射靶材和CH_4为反应气体,调节CH_4流量,在p(100)单晶硅和不锈钢基底上成功制备出系列的含氢a-C:H薄膜.利用场发射扫描电子显微镜(FESEM)、原子力显微镜(AFM)、Raman光谱、纳米压痕仪、CSM划... 采用直流的反应磁控溅射技术,以高纯石墨为溅射靶材和CH_4为反应气体,调节CH_4流量,在p(100)单晶硅和不锈钢基底上成功制备出系列的含氢a-C:H薄膜.利用场发射扫描电子显微镜(FESEM)、原子力显微镜(AFM)、Raman光谱、纳米压痕仪、CSM划痕测试仪、摩擦磨损试验机等测试手段对所制备含氢a-C:H薄膜的微结构、力学性能和摩擦磨损行为进行系统表征.结果表明:随着CH_4流量的增加,含氢a-C:H薄膜的致密度呈现出微弱的先增加后减小的趋势;薄膜的沉积速率随着CH_4流量的增加逐渐增加,但增幅呈现出逐渐减小趋势;随着CH_4流量的增加,薄膜中sp^3杂化键含量及其纳米硬度和杨氏模量也呈现出先增加后减小的规律;摩擦实验结果表明当CH_4流量为8 sccm,所制备的含氢a-C:H薄膜的摩擦学性能最佳,摩擦系数为0.20,磨损率为6.48×10^(-7)mm^3/(N·m). 展开更多
关键词 磁控溅射 a-c:h薄膜 微结构 摩擦磨损
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甲烷流量对中频磁控溅射制备TiSi-C:H薄膜生长和性能的影响(英文) 被引量:1
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作者 姜金龙 陈娣 +3 位作者 王琼 黄浩 朱维君 郝俊英 《稀有金属材料与工程》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2014年第10期2305-2310,共6页
以甲烷为先驱气体通过中频磁控溅射Ti80Si20靶材在硅和不锈钢基底上制备TiSi-C:H薄膜,研究了甲烷流量对薄膜沉积速率、结构、力学和摩擦学性能的影响。结果表明,甲烷流量对薄膜结构、力学和摩擦学性能有显著影响,随甲烷流量增加薄膜从... 以甲烷为先驱气体通过中频磁控溅射Ti80Si20靶材在硅和不锈钢基底上制备TiSi-C:H薄膜,研究了甲烷流量对薄膜沉积速率、结构、力学和摩擦学性能的影响。结果表明,甲烷流量对薄膜结构、力学和摩擦学性能有显著影响,随甲烷流量增加薄膜从包含约10 nm晶的锥状纳米晶/非晶复合结构向非晶结构转变,在低甲烷流量下沉积的薄膜具有高硬度、高应力和高磨损率;在高甲烷流量下薄膜硬度和应力降低,而摩擦学性能提高。薄膜力学和摩擦学性能的变化被认为是随甲烷流量增加薄膜结构演化的结果。 展开更多
关键词 a-c:h薄膜 中频磁控溅射 力学性能 摩擦性能
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Ar/CH_4流量比对a-C∶H薄膜沉积速率及性能的影响
9
作者 弥谦 王超 +2 位作者 惠迎雪 张艳茹 杭凌侠 《西安工业大学学报》 CAS 2012年第8期608-612,共5页
为研究气体流量比对非平衡磁控溅射沉积含氢类金刚石薄膜(Diamond-Like Carbon,DLC)沉积速率及性能的影响,在不同Ar/CH4流量比条件下将a-C∶H沉积在单晶硅基底,采用傅里叶红外光谱、椭偏仪、表面轮廓仪对薄膜的沉积速率、光学特性及表... 为研究气体流量比对非平衡磁控溅射沉积含氢类金刚石薄膜(Diamond-Like Carbon,DLC)沉积速率及性能的影响,在不同Ar/CH4流量比条件下将a-C∶H沉积在单晶硅基底,采用傅里叶红外光谱、椭偏仪、表面轮廓仪对薄膜的沉积速率、光学特性及表面粗糙度进行研究.实验结果表明:引入甲烷气体后,非平衡磁控溅射沉积a-C∶H薄膜沉积速率大幅度提高;在3~5μm波段硅基底上镀制a-C∶H膜具有良好的红外增透特性,薄膜峰值透射率明显受到Ar/CH4流量比的影响,Ar/CH4流量比1∶3时,制备的a-C∶H峰值透过率可达69.24%;a-C∶H薄膜的折射率和消光系数随着CH4流量的增加而增大;a-C薄膜的粗糙度要优于a-C∶H薄膜,a-C∶H薄膜的粗糙度随厚度的增加而变大. 展开更多
关键词 a-ch薄膜 非平衡磁控溅射 气体流量比 光学性能
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无定形氢化碳薄膜
10
作者 王家骅 赵英 《南开大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 1989年第2期94-102,共9页
关键词 氢化碳 薄膜 a-c:h薄膜
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α-C:H膜表面形貌及光学性能的测试分析 被引量:4
11
作者 刘兴华 吴卫东 +3 位作者 何智兵 袁前飞 王红斌 蔡从中 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第11期1853-1857,共5页
以H2和反式-2-丁烯(T2B)为工作气体,利用低压等离子体增强化学气相沉积法制备了α-C:H薄膜。采用原子力显微镜、扫描电镜测试了α-C:H薄膜的表面形貌,分析了实验参数对其形貌的影响。研究表明:固定压强(15Pa),当T2B/H2流量比... 以H2和反式-2-丁烯(T2B)为工作气体,利用低压等离子体增强化学气相沉积法制备了α-C:H薄膜。采用原子力显微镜、扫描电镜测试了α-C:H薄膜的表面形貌,分析了实验参数对其形貌的影响。研究表明:固定压强(15Pa),当T2B/H2流量比为4时,薄膜均方根粗糙度可达0.97nm。保持T2B/H2流量比固定,增加工作气压,薄膜均方根粗糙度减小,表面更平整、致密。利用傅里叶变换红外光谱仪对薄膜价键结构进行分析,结果表明:α-C:H薄膜中主要存在sp^3C—H键,氢含量较高;T2B/H2流量比越低,薄膜中含有更多的C=C键。应用UV—VIS光谱仪,获得了波长在200~1100nm范围内薄膜的光吸收特性,α-C:H薄膜透过率可达98%,计算得到的折射率在1.16~1.40。随工作气压的增加,α-C:H薄膜中sp^3杂化键增多,透过率、折射率增大。 展开更多
关键词 α-c:h薄膜 表面粗糙度 折射率 透过率 杂化键
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α-C∶H膜化学结构对光学性能的影响 被引量:4
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作者 刘兴华 吴卫东 +3 位作者 何智兵 张宝玲 王红斌 蔡从中 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第3期350-354,共5页
选用体积分数为99.9999%的H2及反式-2-丁烯(T2B)为工作气体,利用低压等离子体增强化学气相沉积法制备了α-C∶H薄膜。利用傅里叶变换红外光谱仪和X射线光电子能谱对薄膜化学键和电子结构进行分析,并结合高斯分峰拟合分析了薄膜中sp3/sp... 选用体积分数为99.9999%的H2及反式-2-丁烯(T2B)为工作气体,利用低压等离子体增强化学气相沉积法制备了α-C∶H薄膜。利用傅里叶变换红外光谱仪和X射线光电子能谱对薄膜化学键和电子结构进行分析,并结合高斯分峰拟合分析了薄膜中sp3/sp2杂化键比值和sp3C杂化键分数。结果表明:薄膜中氢含量较高,主要以sp3C—H形式存在;工作气压越高,制备的薄膜中C=C键含量越少,薄膜中sp3/sp2杂化键比值和sp3C杂化键分数增加,薄膜稳定性提高。应用UV-VIS光谱仪,获得了波长在400~1000nm范围内薄膜的光吸收特性,结果显示:α-C∶H薄膜透过率可达98%。光学常数公式计算得到工作压强为4~14Pa时光学带隙在2.66~2.76之间,并均随着工作气压的升高而增大。结果表明,随工作气压的升高,薄膜内sp3键减小,从而促使透过率、光学带隙增大。 展开更多
关键词 α-ch薄膜 化学键 透过率 光学带隙 低压等离子体增强化学气相沉积法
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基体温度对线性离子束技术制备α-C∶H薄膜结构和性能的影响 被引量:2
13
作者 黄雷 袁军堂 +1 位作者 汪振华 于斌斌 《机械工程材料》 CAS CSCD 北大核心 2015年第7期31-34,98,共5页
采用线性离子束镀膜技术在YG6硬质合金上沉积氢化类金刚石(α-C∶H)薄膜,通过原子力显微镜、Raman光谱仪、球磨仪和洛氏压力仪等研究了基体温度对α-C∶H薄膜微观结构、表面形貌、耐磨性以及膜基结合性能的影响。结果表明:随着基体温度... 采用线性离子束镀膜技术在YG6硬质合金上沉积氢化类金刚石(α-C∶H)薄膜,通过原子力显微镜、Raman光谱仪、球磨仪和洛氏压力仪等研究了基体温度对α-C∶H薄膜微观结构、表面形貌、耐磨性以及膜基结合性能的影响。结果表明:随着基体温度升高,薄膜中sp3键含量和耐磨性能先降低后提高,表面粗糙度先减小后增大;基体温度在80℃时,制备的薄膜最为光滑,而sp3键含量最低,薄膜耐磨性最差;基体温度对膜基结合性能没有明显的影响。 展开更多
关键词 线性离子束 α-ch薄膜 基体温度 显微结构 性能
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低碳含量a-Si_(1-x)C_x∶H薄膜的化学键结构 被引量:1
14
作者 王燕 岳瑞峰 +4 位作者 韩和相 廖显伯 王永谦 刁宏伟 孔光临 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第5期599-603,共5页
利用两种不同激发波长进行 Ram an测量 ,研究了低碳含量 a- Si1 - x Cx∶ H (~ <2 0 at.% )薄膜的结构特征 .采用 6 47.1nm激发时 ,由于激发光能量接近于各样品的光学带隙 ,因而在样品中具有较大的穿透深度 ;而采用488nm激发时 ,激... 利用两种不同激发波长进行 Ram an测量 ,研究了低碳含量 a- Si1 - x Cx∶ H (~ <2 0 at.% )薄膜的结构特征 .采用 6 47.1nm激发时 ,由于激发光能量接近于各样品的光学带隙 ,因而在样品中具有较大的穿透深度 ;而采用488nm激发时 ,激发光被样品表面强烈吸收 .探测深度的变化造成了两种激发下 Raman谱出现较大的差异 .实验结果表明样品体内存在硅团簇结构 ,样品的自由表面存在一层高浓度的缺陷层 .这两种空间的不均匀性造成了高能激发时 Raman谱的 TO模频率和半高宽比低能激发时有大的红移和展宽 .以上结果证明不同激发波长将造成Ram an测量结果的差异 . 展开更多
关键词 Raman测量 化学键结构 a-Si-c:h薄膜
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等离子增强化学气相沉积法制备Si-C-H薄膜 被引量:1
15
作者 胡水江 徐君 +1 位作者 黄小华 李生初 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2012年第1期79-82,86,共5页
以SiH4和CH4为气源,在不同的工艺条件下用增强化学气相沉积(PECVD)方法制备了一系列Si-C-H薄膜,并对薄膜的结构和性能进行了一系列测试分析,研究了薄膜的结构性能特点以及CH4/SiH4比和射频功率等工艺参数对薄膜结构和性能的影响。发现... 以SiH4和CH4为气源,在不同的工艺条件下用增强化学气相沉积(PECVD)方法制备了一系列Si-C-H薄膜,并对薄膜的结构和性能进行了一系列测试分析,研究了薄膜的结构性能特点以及CH4/SiH4比和射频功率等工艺参数对薄膜结构和性能的影响。发现薄膜中主要形成的是嵌有Si晶粒的非晶态SiC结构,H原子主要以C-H键形式存在。高的射频功率和CH4/SiH4比均有利于Si-C的形成,而较低的CH4/SiH4比可以提高薄膜的晶态率。薄膜的电阻率随着CH4/SiH4比的增大而增大,随着射频功率的增大而减小。 展开更多
关键词 射频 Si-c-h薄膜 非晶态 结构 导电性能
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溅射能量对WC/a-C:H薄膜结构与性能的影响 被引量:1
16
作者 孙尚琪 刘翔 +2 位作者 王永欣 王立平 薛群基 《中国有色金属学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第5期955-963,共9页
为探究溅射能量对WC/a-C:H薄膜结构与性能的影响,并讨论WC掺杂对a-C:H薄膜的影响。通过非平衡磁控溅射+等离子体增强化学气相沉积法(UBMS+PACVD),以WC靶作为溅射靶,C_2H_2为反应气体,通过调制溅射靶电流,在316不锈钢基体上制备WC/a-C:H... 为探究溅射能量对WC/a-C:H薄膜结构与性能的影响,并讨论WC掺杂对a-C:H薄膜的影响。通过非平衡磁控溅射+等离子体增强化学气相沉积法(UBMS+PACVD),以WC靶作为溅射靶,C_2H_2为反应气体,通过调制溅射靶电流,在316不锈钢基体上制备WC/a-C:H系列薄膜。用场发射电镜、透射电镜、X射线衍射仪、XPS、拉曼光谱等对薄膜的微观结构和成分进行表征,用划痕仪、纳米硬度仪测试了薄膜的力学性能,用多功能摩擦机对薄膜的摩擦学性能进行分析。结果表明:WC主要以β-WC_(1-x)纳米晶的形式均匀分布在非晶碳中,随着溅射靶电流的上升,薄膜中W含量和膜基结合力呈上升趋势,在11A时上升至21.9%(摩尔分数)和18.6 N,而I_D/I_G比值和硬度逐渐降低至0.55和11 GPa。溅射靶电流为4 A时,WC/a-C:H薄膜表现出较好的磨损性能,摩擦因数低至0.15,磨损率为5.38×10^(-7) mm^3/(N?m)。 展开更多
关键词 溅射靶电流 Wc/a-c:h薄膜 摩擦磨损
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不同金属基体上W-C:H溅射薄膜的摩擦学性能 被引量:1
17
作者 郑军 周晖 +2 位作者 杨拉毛草 张延帅 翟广泉 《宇航材料工艺》 CAS CSCD 北大核心 2015年第1期57-61,共5页
采用非平衡磁控溅射技术在40Cr、9Cr18、GCr15、TC4及LY12等5种金属基体上沉积了钨掺杂含氢类金刚石(W-C:H)薄膜.采用Raman光谱仪、扫描电子显微镜、纳米硬度计及纳米划痕仪分别测试了薄膜的微结构、厚度、硬度及附着力,采用球-盘摩... 采用非平衡磁控溅射技术在40Cr、9Cr18、GCr15、TC4及LY12等5种金属基体上沉积了钨掺杂含氢类金刚石(W-C:H)薄膜.采用Raman光谱仪、扫描电子显微镜、纳米硬度计及纳米划痕仪分别测试了薄膜的微结构、厚度、硬度及附着力,采用球-盘摩擦试验机及光学轮廓仪分别在干摩擦和PFPE脂润滑条件下评价了5种金属材料基体上薄膜的摩擦磨损性能.薄膜性能测试结果显示,该厚度为1μm的薄膜具有典型的类金刚石结构,硬度与弹性模量分别为11.56和128.34 GPa,附着力为645 mN;摩擦试验结果显示,在干摩擦条件下几种金属基体表面W-C:H薄膜的摩擦因数和磨损率差别比较显著,而在脂润滑条件下基体材料的影响较小;与干摩擦条件相比,脂润滑条件下薄膜的磨损可减少60% ~75%;在干摩擦与脂润滑条件下,9Cr18与40Cr基体上的W-C:H薄膜摩擦体系分别具有最小的磨损率1.71×10-7 mm3/(N·m)及4.55×10-8 mm3/(N·m). 展开更多
关键词 W-c:h薄膜 摩擦学 PEPE润滑脂 力学性能 非平衡磁控溅射
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溅射靶功率对W-C:H薄膜结构与摩擦学性能的影响 被引量:1
18
作者 孙尚琪 刘翔 +2 位作者 王永欣 李金龙 王立平 《表面技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第11期104-109,共6页
目的研究不同溅射功率对W-C:H涂层结构与摩擦学性能的影响。方法用非平衡磁控溅射(UBMS)+等离子体增强化学气相沉积法(PECVD),以WC靶作为溅射靶,C2H2为反应气体,通过调制溅射靶功率,在316不锈钢与Si(100)基体上制备了W-C:H系列薄膜。通... 目的研究不同溅射功率对W-C:H涂层结构与摩擦学性能的影响。方法用非平衡磁控溅射(UBMS)+等离子体增强化学气相沉积法(PECVD),以WC靶作为溅射靶,C2H2为反应气体,通过调制溅射靶功率,在316不锈钢与Si(100)基体上制备了W-C:H系列薄膜。通过场发射电镜(FESEM)、X射线衍射仪(XRD)、拉曼光谱对薄膜的微观结构和成分进行了表征。用UMT-3MT多功能摩擦机对薄膜的摩擦学性能进行了分析。结果 W-C主要以β-WC1-x纳米晶的形式均匀分布在非晶碳中,并表现出(200)面择优生长。随着溅射靶功率的上升,薄膜内W含量逐渐升高,(200)面衍射峰逐渐增强,sp2含量先降低后升高。靶功率在1.4 k W时具有较好的摩擦学性能,摩擦系数为0.15,磨损率为3.92×10-7 mm^3/(N·m)。结论随着溅射靶功率逐渐升高,柱状晶逐渐变粗,涂层的致密性逐渐降低,薄膜摩擦学性能与WC含量密切相关。 展开更多
关键词 W-c:h薄膜 溅射靶功率 结构 摩擦系数 磨损率 韧性
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乳化液环境中WC/a-C:H薄膜摩擦行为的研究
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作者 孙尚琪 王永欣 +3 位作者 路小江 刘翔 李金龙 王立平 《摩擦学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第5期554-561,共8页
采用等离子体增强化学气相沉积复合磁控溅射法制备了WC/a-C:H薄膜.使用X射线衍射仪、扫描电镜、X射线光电子能谱、拉曼光谱和透射电镜表征了薄膜结构和组成,并使用球盘往复摩擦试验机测试薄膜在不同体系乳化液环境中的摩擦学性能.结果表... 采用等离子体增强化学气相沉积复合磁控溅射法制备了WC/a-C:H薄膜.使用X射线衍射仪、扫描电镜、X射线光电子能谱、拉曼光谱和透射电镜表征了薄膜结构和组成,并使用球盘往复摩擦试验机测试薄膜在不同体系乳化液环境中的摩擦学性能.结果表明:WC/a-C:H薄膜具有典型的类金刚石结构,WC以β-WC1-x相的形式存在. WC在碳基薄膜中的掺杂使WC/a-C:H薄膜的硬度和弹性模量分别变化至11和140 GPa.油膜、水膜与转移膜的协同润滑效应能够提升其耐磨能力.适宜的浓度配比和薄膜表面石墨化程度是影响摩擦的关键因素. 展开更多
关键词 Wc/a-c:h薄膜 乳化液 摩擦 磨损
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304不锈钢表面Cr/a-C:H薄膜的制备及其抗腐蚀性能
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作者 刘龙 周升国 +2 位作者 刘正兵 王跃臣 马利秋 《材料保护》 CAS CSCD 北大核心 2016年第8期46-48,8,共3页
采用直流反应磁控溅射技术在304不锈钢表面制备Cr/a-C:H薄膜进行表面改性,有望提高其在NaCl溶液中的耐蚀性能。采用Raman光谱仪、X射线衍射仪(XRD)、场发射扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)研究了Cr/a-C:H薄膜的微观结构和表面形... 采用直流反应磁控溅射技术在304不锈钢表面制备Cr/a-C:H薄膜进行表面改性,有望提高其在NaCl溶液中的耐蚀性能。采用Raman光谱仪、X射线衍射仪(XRD)、场发射扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)研究了Cr/a-C:H薄膜的微观结构和表面形貌;利用接触角测量仪和动电位极化曲线研究了304不锈钢表面沉积Cr/a-C:H薄膜前后的润湿性和抗腐蚀性能。结果表明:所制备薄膜为Cr_3C_2纳米晶镶嵌非晶碳的典型纳米晶/非晶复合薄膜;薄膜表面光滑、结构均匀致密;沉积Cr/a-C:H薄膜后304不锈钢表面由亲水性转为疏水性,水接触角达到95°;在3.5%NaCl溶液中304不锈钢表面沉积Cr/a-C:H薄膜体系的自腐蚀电位约为-0.06 V,腐蚀电流密度为2.95×10^(-8)A/cm^2,极化电阻为14.07×10~5Ω·cm^2,相比于表面无薄膜防护的304不锈钢,该体系的抗腐蚀性能得到明显提升。 展开更多
关键词 304不锈钢 磁控溅射 cr/a-c:h薄膜 抗腐蚀性能
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