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一种遵循IEEE 1149.1标准的可测试性设计结构 被引量：7
1
作者 尹志刚 李华伟 李晓维 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2003年第5期23-27,共5页
IEEE1149.1(也称JTAG)是支持芯片边界扫描的国际标准,提供了统一的测试访问端口。如今,它已成为芯片必不可少的一种“开销”。本文通过定制JTAG逻辑,以求用最少的开销,最简单灵活的方式来管理各种DFT逻辑。
关键词 ieee1149.1标准 国际标准 可测试性设计结构 时序电路
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基于边界扫描技术的集成电路测试系统设计与实现 被引量：3
2
作者 陆鹏 谢永乐 《电子质量》 2009年第10期13-15,共3页
介绍了边界扫描的技术原理,及其在集成电路测试中的具体应用,并给出了一种基于边界扫描技术的板级集成电路测试系统的方案及实现。
关键词 边界扫描 ieee1149.1标准 集成电路测试
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基于IEEE1149.1标准的边界扫描控制器的设计 被引量：3
3
作者 高艳辉 赵蕙 肖铁军 《计算机测量与控制》 CSCD 北大核心 2010年第11期2550-2552,共3页
为克服传统基于PC机的边界扫描测试系统所具有的独立性差、测试速度慢等缺点,从IEEE1149.1标准及边界扫描测试的功能需求入手,将边界扫描测试技术与SOPC技术相结合,提出了一种灵活、高效的嵌入式系统解决方案;该方案从IEEE标准及边界扫... 为克服传统基于PC机的边界扫描测试系统所具有的独立性差、测试速度慢等缺点,从IEEE1149.1标准及边界扫描测试的功能需求入手,将边界扫描测试技术与SOPC技术相结合,提出了一种灵活、高效的嵌入式系统解决方案;该方案从IEEE标准及边界扫描测试的功能需求入手,设计了边界扫描测试系统的核心——边界扫描控制器,论文对该控制器的设计是采用自顶向下的模块化设计思想,VHDL语言描述实现;并将该控制器嵌入在具有Nios软核CPU的FPGA上,提高了系统设计的灵活性及边界扫描测试的速度;仿真结果表明该设计方案是正确可行的。 展开更多
关键词 ieee1149.1标准 边界扫描控制器 SOPC NIOSII处理器
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支持SVF的边界扫描测试系统的设计与实现 被引量：1
4
作者 胡莲 《测控技术》 CSCD 2005年第4期14-16,26,共4页
边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法,它提供了对电路板上器件的功能、互连等进行测试的新途径。本设计实现了一种能够自动生成SVF测试图形的边界扫描测试系统,然后利用该系统进行了PCB板级的扫描链完整性测试和芯片互连... 边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法,它提供了对电路板上器件的功能、互连等进行测试的新途径。本设计实现了一种能够自动生成SVF测试图形的边界扫描测试系统,然后利用该系统进行了PCB板级的扫描链完整性测试和芯片互连测试,测试结果分析表明系统可以检测出被测对象的故障类型。 展开更多
关键词 边界扫描测试 ieee1149.1标准 测试图形生成 串行向量格式
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边界扫描测试技术及其应用 被引量：1
5
作者 胡莲 肖铁军 《微处理机》 2004年第2期35-37,40,共4页
边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法 ,它提供了对电路板上元件的功能、互连等进行测试的一种统一方案 ,极大地提高了系统测试的效率。本文详细介绍了边界扫描测试的原理、结构 ,讨论了边界扫描测试技术的应用。
关键词 边界扫描测试 可测性设计 ieee1149.1标准 集成电路 数字系统
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基于IEEE1149.1标准的在线测试的研究 被引量：2
6
作者 颜学龙 梁吴林 陈寿宏 《测控技术》 CSCD 2015年第1期55-58,共4页
虽然IEEE1149.1标准的提出及应用很好地解决了集成电路的测试问题,然而该标准在对被测电路进行实时故障诊断时却遇到了瓶颈。针对这一问题,利用并行特征分析器(PSA)及跟踪存储技术设计了一种基于IEEE1149.1标准的测试结构,结构中离线部... 虽然IEEE1149.1标准的提出及应用很好地解决了集成电路的测试问题,然而该标准在对被测电路进行实时故障诊断时却遇到了瓶颈。针对这一问题,利用并行特征分析器(PSA)及跟踪存储技术设计了一种基于IEEE1149.1标准的测试结构,结构中离线部分主要实现边界扫描基础测试并为在线测试提供控制信号,在线部分主要实现实时故障的诊断。设计采用Verilog语言建模,并用QuartusII软件仿真。仿真结果表明该设计能较好地检测出实时故障。 展开更多
关键词 ieee1149.1标准 实时故障 并行特征分析器 跟踪存储
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基于BST技术的印制电路板的测试 被引量：1
7
作者 吴兰臻 樊桂花 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第z2期634-635,共2页
介绍了边界扫描测试(BST)的基本组成,以及采用BST技术实现印制电路板测试。BST技术遵循IEEE1149.1标准,它不需要占用太多的硬件资源,使复杂的印制电路板或数字系统及设备的测试工作变得方便快捷,大大降低了测试成本。
关键词 边界扫描测试 印制电路板 ieee1149.1标准
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一种以太网边缘扫描控制器设计方案
8
作者 石华磊 谢永乐 《自动化信息》 2009年第10期53-54,共2页
利用嵌入式技术开发了以太网边缘扫描控制器，该控制器实现了以太网接入功能，可以测试任何符合IEEE1149．1标准的器件、电路板和系统。
关键词 边缘扫描 以太网 ieee1149.1标准
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IEEE1149.1标准的一些问题
9
作者 林传骝 《国外电子测量技术》 1998年第6期32-36,共5页
本文讨论了IEEE1149.1标准的有关问题和某些问题的解决办法。促使该标准能广泛被接受并在工业中能推广使用。
关键词 ieee1149.1标准 测试 边界扫描 电子元件
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基于边界扫描技术的数字系统测试研究 被引量：4
10
作者 倪军 杨建宁 《电子技术应用》 北大核心 2006年第9期107-110,共4页
介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、边界扫描测试原理以及利用边界扫描技术控制IC芯片处于特定功能模式的方法。针对IC芯片某种特定的功能模式给出了设计思路和方法,并用两块xc9572pc84芯片互连的PCB板为例进行设计分析和实验实现。通过... 介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、边界扫描测试原理以及利用边界扫描技术控制IC芯片处于特定功能模式的方法。针对IC芯片某种特定的功能模式给出了设计思路和方法,并用两块xc9572pc84芯片互连的PCB板为例进行设计分析和实验实现。通过实验实现,体现了边界扫描技术易于电路系统调试和方便系统设计的特点,且设计的系统控制逻辑简单方便,易于实现。 展开更多
关键词 边界扫描测试 ieee1149.1标准(JTAG标准) 可测性设计 集成电路
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