期刊文献+

边界扫描测试技术及其应用 被引量:1

Boundary Scan Test Technology and its Applications
下载PDF
导出
摘要 边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法 ,它提供了对电路板上元件的功能、互连等进行测试的一种统一方案 ,极大地提高了系统测试的效率。本文详细介绍了边界扫描测试的原理、结构 ,讨论了边界扫描测试技术的应用。 Boundary scan technology is an integrated and standardized method of design for testability. It provides a scheme for the test of component-functionality, board interconnection, which has greatly improved the efficiency of system debugging. The working principle and architecture of BST is introduced in this paper and its applications are discussed.
作者 胡莲 肖铁军
出处 《微处理机》 2004年第2期35-37,40,共4页 Microprocessors
关键词 边界扫描测试 可测性设计 IEEE1149.1标准 集成电路 数字系统 Boundary scan test Design for testability IEEE 1149.1 standard
  • 相关文献

参考文献2

  • 1[1]IEEE std 1149.1-2001.IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture.Published by the Institute of Electrical and Electronics Engineers[Z].Inc.,345 East 47th Street,New York,NY 10017,USA. 被引量:1
  • 2[2]Kenneth P.Parker.The Boundary-Scan Handbook Second Edition[M].Kluwer Academic Publishers,1998. 被引量:1

同被引文献4

引证文献1

二级引证文献1

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部