托卡马克等离子体破裂会产生逃逸电流,如不进行抑制,其携带的巨大能量将对设备造成严重破坏。本文使用DREAM程序中的流体模型,基于中国环流器二号M(HL-2M)托卡马克装置大等离子体电流放电条件,研究注入氘氩/氖混合气体对破裂逃逸电流的...托卡马克等离子体破裂会产生逃逸电流,如不进行抑制,其携带的巨大能量将对设备造成严重破坏。本文使用DREAM程序中的流体模型,基于中国环流器二号M(HL-2M)托卡马克装置大等离子体电流放电条件,研究注入氘氩/氖混合气体对破裂逃逸电流的影响。研究表明:注入氘氩/氖混合气体可以抑制最终形成的平台逃逸电流。在讨论的破裂前等离子体电流I_(p)范围内,最优条件下氩/氖在混合气体中的含量应在0.50%~0.70%,氘的注入量应在10^(20)~10^(21)m^(-3)。在这个范围外,氘氩/氖混合气体注入对逃逸电流的抑制效果都会减弱,甚至会增大逃逸电流。破裂前等离子体电流I_(p)是影响逃逸电流的关键因素。I_(p)越大,形成的逃逸电流越大,也需要注入更多的混合气体。在I_(p)高达10 MA的聚变堆级托卡马克装置上,注入混合气体的密度需要达到10^(22)m^(-3),这是目前大量气体注入(Massive Gas Injection,MGI)技术所不能达到的,通过散裂弹丸注入氘氩/氖混合物将是更加可行的方式。展开更多
对托卡马克装置内壁产生巨大电磁力是等离子体破裂重要和直接的影响,这会对装置的安全运行造成巨大威胁.等离子体破裂期间电流猝灭率不仅与真空室内第一壁的负载设计有关,并且与装置重大部件的设计也相关.本文选用100%-40%区间统计研究...对托卡马克装置内壁产生巨大电磁力是等离子体破裂重要和直接的影响,这会对装置的安全运行造成巨大威胁.等离子体破裂期间电流猝灭率不仅与真空室内第一壁的负载设计有关,并且与装置重大部件的设计也相关.本文选用100%-40%区间统计研究等离子体破裂现象.分析结果表明:100%-40%区间统计下HL-2A上最小电流猝灭时间为0.7 ms,对应的最小面积归一化电流猝灭时间为1.4 ms m^(-2).瞬时最大电流猝灭率与平均电流猝灭率的比值大部分都大于1.展开更多
文摘托卡马克等离子体破裂会产生逃逸电流,如不进行抑制,其携带的巨大能量将对设备造成严重破坏。本文使用DREAM程序中的流体模型,基于中国环流器二号M(HL-2M)托卡马克装置大等离子体电流放电条件,研究注入氘氩/氖混合气体对破裂逃逸电流的影响。研究表明:注入氘氩/氖混合气体可以抑制最终形成的平台逃逸电流。在讨论的破裂前等离子体电流I_(p)范围内,最优条件下氩/氖在混合气体中的含量应在0.50%~0.70%,氘的注入量应在10^(20)~10^(21)m^(-3)。在这个范围外,氘氩/氖混合气体注入对逃逸电流的抑制效果都会减弱,甚至会增大逃逸电流。破裂前等离子体电流I_(p)是影响逃逸电流的关键因素。I_(p)越大,形成的逃逸电流越大,也需要注入更多的混合气体。在I_(p)高达10 MA的聚变堆级托卡马克装置上,注入混合气体的密度需要达到10^(22)m^(-3),这是目前大量气体注入(Massive Gas Injection,MGI)技术所不能达到的,通过散裂弹丸注入氘氩/氖混合物将是更加可行的方式。
文摘对托卡马克装置内壁产生巨大电磁力是等离子体破裂重要和直接的影响,这会对装置的安全运行造成巨大威胁.等离子体破裂期间电流猝灭率不仅与真空室内第一壁的负载设计有关,并且与装置重大部件的设计也相关.本文选用100%-40%区间统计研究等离子体破裂现象.分析结果表明:100%-40%区间统计下HL-2A上最小电流猝灭时间为0.7 ms,对应的最小面积归一化电流猝灭时间为1.4 ms m^(-2).瞬时最大电流猝灭率与平均电流猝灭率的比值大部分都大于1.
