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一种新的Iddq故障定位算法研究 被引量:10
1
作者 张兰 徐红兵 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第2期133-136,共4页
提出了一种新的基于静态电流检测的故障定位算法,该算法依据输入向量序列的响应和电路的结构特征,通过对DUT电路正常情况下的模拟,可直接计算出可能的故障点,并能够完成多故障的定位。实验结果表明该算法能对桥接故障、漏电流故障等进... 提出了一种新的基于静态电流检测的故障定位算法,该算法依据输入向量序列的响应和电路的结构特征,通过对DUT电路正常情况下的模拟,可直接计算出可能的故障点,并能够完成多故障的定位。实验结果表明该算法能对桥接故障、漏电流故障等进行有效的定位。 展开更多
关键词 静态电流检测 故障定位 故障检测 桥接故障
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数字电路故障诊断 被引量:10
2
作者 周继承 黎飞 肖庆中 《应用科技》 CAS 2008年第2期29-32,共4页
针对目前数字电路开发和生产过程中对电路的故障诊断效率低下的问题,开发了故障诊断定位软件,能有效地对数字电路中的固定故障和桥接故障进行诊断定位,应用该软件能有效地缩短查找数字电路中故障的时间,对提高数字电路的开发速度具有重... 针对目前数字电路开发和生产过程中对电路的故障诊断效率低下的问题,开发了故障诊断定位软件,能有效地对数字电路中的固定故障和桥接故障进行诊断定位,应用该软件能有效地缩短查找数字电路中故障的时间,对提高数字电路的开发速度具有重大的现实意义. 展开更多
关键词 数字电路 固定故障 桥接故障 故障诊断
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关于数字电路故障诊断的探讨 被引量:5
3
作者 李珊琼 《计算机光盘软件与应用》 2014年第7期311-312,共2页
现如今开发了一种可以进行故障诊断定位的软件,是为了解决当前数字电路的生产环节中一些电路故障诊断效率过低的问题,它能够对数字电路中的桥接故障和固定故障进行有效的诊断定位,该软件的应用能够把查找数字电路中故障的时间有效的缩短... 现如今开发了一种可以进行故障诊断定位的软件,是为了解决当前数字电路的生产环节中一些电路故障诊断效率过低的问题,它能够对数字电路中的桥接故障和固定故障进行有效的诊断定位,该软件的应用能够把查找数字电路中故障的时间有效的缩短,它对数字电路开发速度的高速提高有着重要的意义。 展开更多
关键词 数字电路 故障诊断 诊断定位 固定故障 桥接故障
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一种数字电路的桥接故障诊断方法 被引量:4
4
作者 黎飞 周继承 肖庆中 《科学技术与工程》 2007年第14期3390-3393,共4页
针对目前数字电路桥接故障诊断效率低的问题,提出了一种基于微分故障模拟算法的数字电路的桥接故障诊断方法,用VHDL语言对电路模型进行了重新建模,利用单固定故障的信息来诊断桥接故障,并对ISCAS85平台下的一些电路进行了模拟,结果表明... 针对目前数字电路桥接故障诊断效率低的问题,提出了一种基于微分故障模拟算法的数字电路的桥接故障诊断方法,用VHDL语言对电路模型进行了重新建模,利用单固定故障的信息来诊断桥接故障,并对ISCAS85平台下的一些电路进行了模拟,结果表明该方法简单、高效,特别适合于数字电路的故障诊断,对于提升我国数字电路可靠性具有重要的理论意义与实际推广应用价值。 展开更多
关键词 微分故障模拟 数字电路 桥接故障 故障诊断
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数字集成电路的测试与故障诊断方法 被引量:2
5
作者 丁芳 谢克明 李治 《太原工业大学学报》 1997年第3期87-91,共5页
从桥接故障的两个特点出发,提出了一种快速盲测法,该法弥补了伪穷举法的不足。它既适用于组合逻辑电路、又适用于时序逻辑电路的短路故障测试。在6K型电力机车微机控制箱的测试与故障诊断过程中的成功应用,证实了该方法的有效性。
关键词 桥接故障 故障测试 故障诊断 数字集成电路
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基于图论的光片上网络桥接故障分析
6
作者 赵春霞 《电子技术(上海)》 2024年第8期328-329,共2页
阐述微环谐振器极易受温度波动影响或器件制造工艺的限制,造成MRs的谐振波长发生改变引起桥接故障。提出一种基于图论的检测方法,建立MRs桥接故障检测图模型,完成桥接故障的检测。
关键词 微环谐振器 ONoC MRS 桥接故障
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桥接故障的物理提取和高效测试
7
作者 韦素芬 《集美大学学报(自然科学版)》 CAS 2014年第4期314-320,共7页
为桥接故障候选点建立7种基于版图的物理模型,给出提取故障候选点的方法.为了更有效地利用芯片设计周期,减少测试图形数量,提出一种以确定性桥接故障测试为主体,有效结合内置多重固定测试的综合型测试方法.用90 nm的两个芯片进行自动测... 为桥接故障候选点建立7种基于版图的物理模型,给出提取故障候选点的方法.为了更有效地利用芯片设计周期,减少测试图形数量,提出一种以确定性桥接故障测试为主体,有效结合内置多重固定测试的综合型测试方法.用90 nm的两个芯片进行自动测试图形生成和验证,从生成测试图形的时间长度、测试图形的数量、桥接故障测试覆盖率3个主要方面来对比,验证了该综合型测试方法的有效性. 展开更多
关键词 桥接故障 故障候选点 确定性桥接故障 测试覆盖率
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一种有效评估桥接故障的I_(DDQ)可测试性分析算法
8
作者 冯建华 孙义和 李树国 《清华大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第1期140-143,共4页
鉴于传统的可测试性分析算法不能处理重汇聚扇出问题,该文提出了一种有效的评估电路桥接故障可测试性的IDDQ可测试性分析算法。这种算法是基于给电路中每个门施加基本矢量集的概率进行的。开始在原始输入端采用单值标记,通过电路分级和... 鉴于传统的可测试性分析算法不能处理重汇聚扇出问题,该文提出了一种有效的评估电路桥接故障可测试性的IDDQ可测试性分析算法。这种算法是基于给电路中每个门施加基本矢量集的概率进行的。开始在原始输入端采用单值标记,通过电路分级和从原始输入端传播标记集可识别重汇聚扇出门,然后采用反向蕴含过程计算重汇聚门基本矢量的概率值,进行重汇聚扇出点的评价。实验结果表明这种算法可获得较精确的可测试性分析结果。 展开更多
关键词 桥接故障 IDDQ可测试性分析算法 超大规模集成电路 重汇聚扇出 反向蕴含 基本矢量集 电路测试
原文传递
组合电路桥接故障诊断的测试生成及优化 被引量:2
9
作者 李蕙 竺红卫 《电路与系统学报》 CSCD 北大核心 2009年第5期1-6,共6页
在利用划分等价类的方法来诊断组合电路中桥接故障的基础上,本文提出了一种基于门特性的IDDQ测试集生成算法及对测试集排序筛选的优化方法。实验结果表明,将此方法应用于组合电路桥接故障的诊断可缩减测试集的大小,提高诊断的故障覆盖率。
关键词 桥接故障 测试生成 敏感输入 测试向量排序
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CMOS电路内结点桥接故障的动态IDDQ可测性研究 被引量:2
10
作者 张新林 《宝鸡文理学院学报(自然科学版)》 CAS 2000年第1期56-58,共3页
采用了动态IDDQ测试方法来探讨静态CMOS电路桥接故障的可测性。
关键词 内结点 动态IDDQ测试 桥接故障 CMOS电路
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印制板故障诊断系统的设计 被引量:1
11
作者 何华锋 胡昌华 张伟 《电子技术应用》 北大核心 2002年第5期30-32,共3页
一套基于过驱动技术的印制板故障诊断系统的设计。该系统由工控计算机、过驱动功能板和测试针床板等组成。过驱动功能板的设计充分考虑了被测对象的各种故障模型,测试功能比较完备。提出了元件“级”的概念,基于此概念来设计针床板与功... 一套基于过驱动技术的印制板故障诊断系统的设计。该系统由工控计算机、过驱动功能板和测试针床板等组成。过驱动功能板的设计充分考虑了被测对象的各种故障模型,测试功能比较完备。提出了元件“级”的概念,基于此概念来设计针床板与功能板之间的接口,实现了测试策略的优化。 展开更多
关键词 设计 印制板 故障诊断 过驱动 桥接故障 针床板
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利用固定性错误检测进行CMOS桥接错误检测
12
作者 汤全武 《电子测量技术》 2008年第2期186-190,194,共6页
检测电路故障的目的在于设计生产时避免经常出现相同错误的电路和为了防止故障将电路结构简化。传统的固定型错误诊断方法不适合进行CMOS桥接错误的诊断。本文介绍的一种新方法利用固定型错误检测表进行改进传统的桥接错误检测方法,采... 检测电路故障的目的在于设计生产时避免经常出现相同错误的电路和为了防止故障将电路结构简化。传统的固定型错误诊断方法不适合进行CMOS桥接错误的诊断。本文介绍的一种新方法利用固定型错误检测表进行改进传统的桥接错误检测方法,采用组合标记(组合标记是指一个主输出样式集合,这个集合能检测出一个桥接故障的两端的所有可能的固定型故障)进行桥接故障检测时,不会误诊断和无法诊断;使用组合标记进行桥接故障检测时,检测结果要么是精确的,要么是部分精确的。经试验表明,利用新方法检测成功率大约在92%左右,出错率控制在4%以下。 展开更多
关键词 桥接故障 固定性错误检测表 CMOS电路 组合标记
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光路由器桥接故障数量检测方法研究 被引量:1
13
作者 朱爱军 古展其 +2 位作者 胡聪 许川佩 赵春霞 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 2022年第2期122-126,共5页
随着硅-光技术的突破,光片上网络系统相比传统的片上系统具有更优的性能。微环谐振器(micro ring resonators,MRR)是组成光路由器的核心器件,因温度影响或制造缺陷,MRR极易发生谐振波长的漂移,从而引起器件的桥接故障,降低光片上网络系... 随着硅-光技术的突破,光片上网络系统相比传统的片上系统具有更优的性能。微环谐振器(micro ring resonators,MRR)是组成光路由器的核心器件,因温度影响或制造缺陷,MRR极易发生谐振波长的漂移,从而引起器件的桥接故障,降低光片上网络系统的安全性和可靠性。文中建立了MRR桥接故障模型,提出了光路由器桥接故障数量检测方法,首先将光路由器中的微环谐振器进行分类,依次建立3种光路寻找结构,得到3条桥接故障寻找路径,找到每条光路径下对应的可以构成桥接故障的微环谐振器。实验结果证明了文中设计的故障数量检测方法的有效性。 展开更多
关键词 微环谐振器 光片上网络 桥接故障
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短路故障的测试产生方法
14
作者 宫云战 《装甲兵工程学院学报》 1996年第1期4-9,共6页
在PCB上,两个不相邻的芯片管脚或引线发生短路是实际应用当中最常见的故障。通过分析固定型故障和桥接故障之间的关系,给出桥接故障测试序列产生的系统计算方法。该方法已应用在一个PCB故障测试系统中。
关键词 桥接故障 故障测试 计算方法
原文传递
膜混合集成电路、MOS集成电路
15
《电子科技文摘》 2001年第10期32-33,共2页
Y2001-62694-55 0116653CMOS电流输送器的VLSI设计和实施=VLSI designand implementation of CMOS current conveyors[会,英]/Kayed,S.& Ragaie,H.F.//1999 IEEEEleventh International Conference on Microelectronics.—55~57(K... Y2001-62694-55 0116653CMOS电流输送器的VLSI设计和实施=VLSI designand implementation of CMOS current conveyors[会,英]/Kayed,S.& Ragaie,H.F.//1999 IEEEEleventh International Conference on Microelectronics.—55~57(K)研究工作的动因是用一种标准的低成本CMOS技术设计和实施电流输送器(CCⅡ+),测量表明,模拟与实验的结果完全一致。 展开更多
关键词 输送器 技术设计 混合集成电路 故障模拟 低成本 开关电流 集成电路设计 电流模 桥接故障 研究工作
原文传递
静态CMOS电路桥接故障可测性研究
16
作者 张新林 胡谷雨 《怀化师专学报》 2000年第2期37-39,共3页
IDDQ测试方法最适合CMOS电路桥接故障的测试 ,给出CMOS电路IDDQ测试的几个基本概念 ,探讨了桥接故障IDDQ可测性条件 ,从理论上证明了静态CMOS电路线结点桥接故障的IDDQ可测性 .
关键词 线结点 桥接故障 输入激励 故障激活 静态CMOS电路 IDDQ测试 守合测试集 可测性
全文增补中
一个超大规模集成电路芯片功能测试的系统方案
17
作者 刘星洋 高琳 《电脑知识与技术》 2013年第4X期2866-2870,共5页
在超大规模集成电路芯片中,电路板的详细实现通常是不知道的,只有功能特性对用户是公开的。在这篇论文中,我们呈现了一个系统的方案,仅仅基于被测电路板的功能特性,我们可以检测出并确定出固定故障和桥接故障。被提议的这个方案对于学... 在超大规模集成电路芯片中,电路板的详细实现通常是不知道的,只有功能特性对用户是公开的。在这篇论文中,我们呈现了一个系统的方案,仅仅基于被测电路板的功能特性,我们可以检测出并确定出固定故障和桥接故障。被提议的这个方案对于学术和工业超大规模集成电路使用者检测固定故障和桥接故障以及确认芯片的功能都及有帮助。规则和实验结果将会被报告。 展开更多
关键词 功能特性 固定0-1故障 桥接故障 标准输入矩阵
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膜混合集成电路、MOS集成电路
18
《电子科技文摘》 2001年第12期33-34,共2页
Y2001-62909-231 0120649CMOS IC 之间的2维光互联=Two-dimensional opticalinterconnect between CMOS IC’s[会,英]/Vanwassen-hove,L.&Baets,R.//2000 IEEE 50th ElectronicComponents & Technology Conference.—231~237(PC)
关键词 混合集成电路 视频处理 单元版图生成 集成测试 测试流程 混合信号电路 微电子学 串扰 桥接故障 总线接口技术
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IDDQ测试生成系统模拟实现
19
作者 张新林 《湘潭大学自然科学学报》 EI CAS CSCD 1999年第2期117-120,共4页
采用了一种新的电路描述方法,适用于CMOS开关级电路及桥接故障模型;给出了几个主要的数据类型及操作;介绍了基本算法,并分析了算法的主要特点;根据这一算法,设计了一个实用测试生成系统,并以标准电路T74181为例。
关键词 IDDQ测试 桥接故障 测试生成系统 CMOS电路
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基于IDDQ测试的VLSI门内电阻式桥接故障仿真 被引量:2
20
作者 许爱强 唐小峰 +1 位作者 牛双诚 杨智勇 《北京工业大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2016年第1期128-133,共6页
为真实模拟集成电路中的桥接故障并评价测试集质量,提出一种基于静态电源电流(IDDQ)测试的逻辑电路门内电阻式桥接故障仿真算法.首先,针对该故障类型,提出一种覆盖率评价标准;其次,利用电路级故障注入与仿真方法构造基本逻辑门单元的故... 为真实模拟集成电路中的桥接故障并评价测试集质量,提出一种基于静态电源电流(IDDQ)测试的逻辑电路门内电阻式桥接故障仿真算法.首先,针对该故障类型,提出一种覆盖率评价标准;其次,利用电路级故障注入与仿真方法构造基本逻辑门单元的故障字典;最后,通过在逻辑电路功能仿真中查询故障信息实现门级的故障仿真.仿真实验表明:相比于传统方法,所提方法能更好地反映测试集对真实桥接故障的覆盖效果,并具备良好的仿真效能. 展开更多
关键词 超大规模集成电路(VLSI)测试 电阻式桥接故障 静态电源电流(IDDQ)测试 故障仿真 故障覆盖率
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