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应变状态对60Si_2CrVAT奥氏体晶粒度的影响

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摘要 通过热模拟试验和有限元模拟,对60Si2Cr VAT晶粒度进行研究。结果发现:变形过程中试样内部的非均匀应变,导致不同区域的奥氏体动态再结晶情况不同,造成不同区域的晶粒尺寸也存在明显差别,在剪应变最大的区域,晶粒最细小。
作者 叶慧丽 王鲲
出处 《现代冶金》 CAS 2012年第6期19-21,共3页 Modern Metallurgy
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