摘要
对芯片内部短路失效,可以使用EMMI和OBIRCH测试进行定位,但又不能完全采用常规的失效分析方法,本文就芯片内部短路失效注意点进行详细剖析。
EMMI and OBRICH testing can be used to locate internal short circuit failures in chips,but conventional failure analysis methods cannot be fully used.This article provides a detailed analysis of the key points for chip short circuit failure analysis.
作者
杨利华
YANG Li-hua(CEC Huada Electronic Design Co.,Ltd.,Beijing Key Laboratory of RFID Chip Test Technology)
出处
《中国集成电路》
2024年第3期91-93,共3页
China lntegrated Circuit
