期刊文献+

双氧水的杂质含量对多晶硅片制绒的影响 被引量:1

Effect of impurity content of hydrogen peroxide on the fluffing of polycrystalline silicon wafers
下载PDF
导出
摘要 通过硅片减重、表面反射率及SEM测试方法,首次研究了双氧水杂质含量对银铜双离子制绒的影响。结果显示,杂质含量高的双氧水使硅片制绒后比杂质含量低的单片平均少减重0.03g,同时导致表面反射率高2%;其制备的多晶硅电池的测试参数表现为短路电流降低30mA,绝对效率降低0.06%。研究结果对于选择合适的双氧水制绒以提升太阳电池效率具有积极意义。
出处 《太阳能》 2019年第7期43-46,共4页 Solar Energy
  • 相关文献

参考文献6

二级参考文献25

共引文献19

同被引文献1

引证文献1

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部