数字芯片中时钟产生模块的设计与验证

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摘要随着今年美国对中兴芯片禁止事件的发展,国人对芯片越来越重视,然而时钟产生模块（ClockGenerationUnit,CGU）是数字芯片不可缺少的-部分.因此,本文给出了数字芯片中时钟产生模块的基本设计结构,提出了基于C语言的直接功能验证和基于UVM方法学的随机功能验证结合的有效方法,达到了功能覆盖率和代码覆盖率的要求,使得设计更符合功能要求.

作者杨斌史亚维

机构地区西安紫光国芯半导体有限公司咸阳职业技术学院

出处《电子世界》 2018年第18期153-153,共1页 Electronics World

关键词数字芯片功能验证时钟产生设计结构模块代码覆盖率方法学 C语言

分类号 TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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