期刊文献+

影响AlGaN/GaN/AlGaN HEMT器件2DEG的因素

下载PDF
导出
摘要 从双异质结AlGaN/GaN/AlGaN HMET器件的结构特点,分析了影响二维电子气(2DEG)的若干因素,如AlGaN势垒层中AL组分、势垒层厚度、GaN层厚度等。进一步分析了器件的电学性能。
作者 张子砚
出处 《电子世界》 2018年第11期21-22,共2页 Electronics World
基金 黔科合LH字[2014]7181号
  • 相关文献

参考文献4

二级参考文献44

  • 1王冲,刘道广,郝跃,张进城.基于AlGaN/GaNHEMT的功率放大器的研究进展[J].微电子学,2005,35(3):245-247. 被引量:3
  • 2薛舫时.GaN异质结的二维表面态[J].Journal of Semiconductors,2005,26(10):1939-1944. 被引量:8
  • 3WANG X L,WANG C M,HUG X,et al.MOCVD grown high mobility Al0.3Ga0.7N/AlN/GaN HEMT structure on sapphire substrate[J].J of Crystal Growth,2007,298:791-793. 被引量:1
  • 4SAITO W,KURAGUCHI M,TAKADA Y,et al.Design optimization of high breakdown voltage AlGaN-GaN power HEMT on an insulating substrate for R on A-VB tradeoff characteristics[J].IEEE Trans on ED,2005,52(1):106-111. 被引量:1
  • 5ZHANG N Q,KELLER S,PARISH G,et al.High breakdown AlGaN/GaN HEMT with overlapping gate structure[J].IEEE EDL,2000,21 (9):421-423. 被引量:1
  • 6KARMALKAR S,MISHRA U K.Enhancement of breakdown voltage in AlGaN/GaN high electron mobility transistors using a field plate[J].IEEE Trans on ED,2001,48(8):1515-1519. 被引量:1
  • 7SAITO W,NITTA T,KAKIUCHI Y,et al.Suppression of dynamic on-resistance increase and gate charge measurements in high-voltage GaN-HEMTs with optimized fiele-plate structure[J].IEEE Trans.Electron Devices,2007,54(8):1825-1830. 被引量:1
  • 8DORA Y,CHAKRABORTY A,MCCARTHY L,et al.High breakdown voltage achieved on AlGaN/GaN HEMTs with integrated slant field plates[J].IEEE ED Lett.2006,27 (9):713-715. 被引量:1
  • 9SAITO W,NITTA T,KAKIUCHI Y,et al.A 120 W boost converter operation using a high-volta ge GaN-HEMT[J].IEEE EDL,2008,29(1):8-9. 被引量:1
  • 10Frayssinet E,Knap W,Lorenzini P,et al.High electron mobility in AlGaN/GaN heterostructures grown on bulk GaN substractes[J].Appl Phys Lett,2000,77(16):2 551-2 553. 被引量:1

共引文献17

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部