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基与74系列芯片的集成电路测试仪的设计

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摘要设计采用单片机AT89S52为核心元件来实现,以AT89S52为核心的数字电路自动测试仪,可以对常见的74系列数字集成电路进行逻辑功能测试、自动确定其型号和好坏,且用LCD显示其逻辑符号。具有体积小、重量轻、成本低、人机界面友好、操作方便和可靠性高等优点。

作者殷凤媛李翔

机构地区安徽建筑大学城市建设学院

出处《电子技术与软件工程》 2017年第7期88-88,共1页 ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING

关键词 AT89S52 自动测试仪

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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2017年第7期

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