一种测试数据分块纵向相容的编码压缩方案

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摘要为有效降低集成电路的测试数据量,设计了一种测试数据分块纵向相容的编码压缩和解压方案。将原始测试集中的每一测试向量以固定位数分块,然后将顺序号相同的数据块归为一列,根据每一列数据块间的相关性,将长的数据块用短的标记码表示,从而实现测试数据的压缩,进而设计了与该编码方案相应的解压结构。研究表明:该方案与同类方案相比有较高的编码压缩率,而且解压过程简单易行。

作者李建新吴孝银

机构地区宿州学院智能信息处理实验室

出处《宿州学院学报》 2016年第3期115-118,共4页 Journal of Suzhou University

基金安徽省教育厅自然科学研究项目(KJ2014ZD31) 安徽省教育厅省级教学研究项目(2012jyxm545) 宿州学院科研平台开放课题(2011YKF09) 宿州学院优秀青年人才资助项目(2014XQNRL006)

关键词标记编码更新纵向相容 #运算 ∩运算

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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