摘要
Y2001-62838 01173292000年第9届亚洲测试专题研讨会会议录=Proceed-ings of the ninth Asian test symposium（ATS 2000）[会,英]/IEEE Computer Siciety Test Technology TechnicalCouncil（TTTC）.—IEEE Computer Society,2000.—495P.（PC）本次会议由IEEE计算机学会测试技术委员会（TTTC）主办,于2000年12月4～6日在中国台北召开。该会议录共收录80多篇论文。内容涵盖:模拟与混合信号测试,存储器机内自测与自诊断,故障模拟与定时模拟,故障分析,测试生成,功能测试,机内自测,软件测试与测试合成,嵌入磁心测试,存储器测试,L<sub>DDQ</sub>测试,可测试性分析与可测试性设计,容错,低功率测试,以及自检电路与并行故障检测等。
出处
《电子科技文摘》
2001年第10期92-93,共2页
Sci.& Tech.Abstract
