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IEEE 1149.6标准在装备测试性设计中的应用研究 被引量：2

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摘要 边界扫描技术是一种应用于集成电路的测试性结构设计方法,主要用来解决复杂电路的测试问题,而装备中交流耦合、差分信号普在高速数字互联网络普遍应用,对传统上基于直流的故障检测边界扫描技术提出了挑战。本文研究了IEE1149.6的基本原理及其在装备测试性设计中的应用,它完全兼容原有的IEEE1149.1标准,可以很好地对高速数字网络进行测试。
作者 苏峰 曾照洋 刘萌萌
机构地区 中国航空综合技术研究所
出处 《山东工业技术》 2016年第10期290-292,共3页 Journal of Shandong Industrial Technology
基金 总装备部技术基础合同项目:军用电子设备边界扫描测试系列标准研究 项目编号:HK30120132BZ77
关键词 边界扫描 IEEE1149.6 测试性 机内测试
分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 相关文献

参考文献5

二级参考文献15

  • 1于宗光.IEEE 1149.1标准与边界扫描技术[J].电子与封装,2003,3(5):40-47. 被引量：19
  • 2陈新武,陈朝阳.适用于高速数字网络的边界扫描标准[J].计算机测量与控制,2004,12(7):678-680. 被引量：4
  • 3郑先刚.边界扫描测试技术的发展和影响[J].电子元器件应用,2005,7(1):40-41. 被引量：4
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  • 7[4]IEEE Std.1149.1-2001, "IEEE Standard Test Access Port and Boundary ScanArchitecture" ,IEEEStandard Board,New York,June 2001. 被引量：1
  • 8[5]S.Chung and S.Baeg, "AC-JTAG: Empowering JTAGBeyond Testing DC Nets" ,Proc.Int' 1 TestConf.(ITC 01),IEEE Press,2001,pp.30-37. 被引量：1
  • 9[6]"Electrical Characteristics of Low Voltage Differential(LVDS) Interface Circuits" ANSI/TIA/EIA-644 LVDS Standard. 被引量：1
  • 10IEEE Std 1149.1-2001.IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture[S]. 被引量：1

共引文献3

同被引文献14

引证文献2

二级引证文献1

山东工业技术
2016年 第10期

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