摘要
材料、工件的残余应力及其分布特征是影响其物理化学性能的重要因素。目前，虽然X射线应力仪已经得到商业化普及，但其只可测定材料表层约10微米深度范围内的应力，无法完成内部应力的无损测定。中子衍射和高能同步辐射装置可用于材料内部应力测试，但该类仪器都是以反应堆、散裂中子源或同步辐射光源等大型装置为基础，这些装置设备庞大、造价昂贵，无法市场化推广。
出处
《科技成果管理与研究》
2016年第2期55-58,共4页
Management And Research On Scientific & Technological Achievements
