摘要
为了克服第一代面板单位根检验方法因忽略截面相关性而导致结论出现显著偏差的问题,第二代面板单位根检验方法应运而生,并在近年来成为跨国(跨区域)研究的重要分析工具。然而,迄今为止,学术界仍鲜有对此方法的有限样本性质展开系统性的比较与分析,鉴于此,本文通过数据生成过程(DGP),结合Monte Carlo模拟对最新提出的第二代面板单位根检验方法的的检验功效、过度拒绝等问题展开比较研究,并在此基础上进一步考察它们在近似单位根、结构性变化和非线性转变等情形下的有限样本性质,最后,基于本文模拟分析结论,提出对未来面板非平稳研究具有实际指导意义的若干建议。
Since first generation panel unit root tests do not take account of cross-sec- tional independence, conclusions based on these tests may be biased. To overcome these limi- tations, second generation panel unit root tests have been recently proposed. However, there is lack of systemic investigation on finite-sample properties of second generation tests. In light of this, this paper employs Monte Carlo simulations to examine the power and over-rejection properties of second generation tests, and further analyze their finite-sample properties when near unit root, structure changes and nonlinear characteristics exist. At last this paper puts forward to some advice for future nonstationary panel analysis.
出处
《数量经济技术经济研究》
CSSCI
北大核心
2015年第12期124-141,共18页
Journal of Quantitative & Technological Economics
基金
国家自然科学基金资助项目(71273286)
全国优秀博士学位论文作者专项资金资助项目(201103)
新世纪优秀人才支持计划(NCET-11-0546)
教育部哲学社会科学研究后期资助重点项目(13JHQ010)
教育部社科重大课题攻关项目(11JZD022)
广东省自然科学基金项目(S2013010012485)
广东省高等学校优秀青年教师培养计划
中央高校基本科研业务费专项资金的资助
