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基于自动测试系统的DSP测试方法研究 被引量:3

Testing Method of DSP on Automatic Testing System
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摘要 论文以ADI公司的ADSP-TS201芯片为例,介绍了在自动测试系统上开发DSP测试程序的方法,其中,重点介绍了测试图形生成技术。 Taking the ADSP-TS201 chip of ADI Company as an example ,the paper introduces the method of develo-ping the testing method of DSP on automatic testing system ,focusing on the test pattern generation technique .
作者 王庆
出处 《计算机与数字工程》 2014年第7期1207-1209,共3页 Computer & Digital Engineering
关键词 数字信号处理器 自动测试系统 测试图形 DSP automatic testing system test pattern
  • 相关文献

参考文献10

二级参考文献18

  • 1贺志容,韩红星,胡勇.93k集成电路测试系统参考源校准方法研究[C].第五届中国测试学术会议论文集:213-215. 被引量:2
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  • 4贺志容,石坚,韩红星.93k集成电路测试系统校准原理及实现方法研究[C] //第一届中国微电子计量与测试技术研讨会论文集,92-95. 被引量:1
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  • 6TMS320C54x Instruction Set Simulator Technical Overview(Rev.A)(spru598a.pdf).Texas Instruments. 被引量:1
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  • 8TMS320C54x DSP Applications Guide Reference Set Volume 4(spru173.htm).Texas Instruments,1996,10. 被引量:1
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  • 10“嵌入式系统论文集“.中国嵌入式系统主题研讨会,2000年10月. 被引量:1

共引文献23

同被引文献30

引证文献3

二级引证文献6

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