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BGA焊点的缺陷分析与工艺改进 被引量:4

Defect Analysis and Process Improvement of BGA Solder Joint
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摘要 结合实际工作中的一些体会和经验 ,就BGA焊点的接收标准、缺陷表现及可靠性等问题展开论述 ,特别对有争议的一种缺陷———空洞进行较为详细透彻的分析 ,并提出一些BGA焊点质量的工艺改进的建议。 The acceptable criterions,solder defects and reliability of BGA solder joint are discussed.Especially a disputed defect behave, void,will be analyzed in detail.Some suggestions of improving BGA solder joint quality will be also put forward.
作者 李民 冯志刚
出处 《电子工艺技术》 2002年第4期160-163,共4页 Electronics Process Technology
关键词 球栅阵列封装器件 缺陷分析 焊点质量 BGA Defect analyzsis Solder quality
  • 相关文献

参考文献2

  • 1[1]Doeter Bergman.Roadmap to BGA standads[J].SMT,2000,10. 被引量:1
  • 2[2]Fred Schlieper.Integration of X-ray inspection and rework improves SMT yields[J].SMT.2001,5. 被引量:1

同被引文献27

引证文献4

二级引证文献18

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