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导数荧光法同时测定溶液体系中痕量铀、铽 被引量:3

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摘要 在H<sub>3</sub>PO<sub>4</sub>—NaH<sub>2</sub>PO<sub>4</sub>体系中同时测定铀、铽时,540nm处铀酰离子荧光峰干扰545nm处铽离子荧光峰,两者的波长差只有5nm.本文应用导数荧光技术解决了光谱干扰问题,使波长差达17nm.即应用一阶导数荧光光谱,可在521nm和538nm处测定铀、铽,并且大大提高了灵敏度,使铀、铽的检测限从常规法的3.2和31ppb下降到1.2和2.8ppb.一。
出处 《冶金分析》 CAS CSCD 北大核心 1991年第1期55-56,共2页 Metallurgical Analysis
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