摘要
深刻地阐述了系统的可测性问题 ,提出了从可测性分析和可测性设计两方面进行研究的观点 .针对支路故障诊断法 ,讨论了可测拓扑条件、可测性分析和可测性设计问题 ,提出了几个新的必要且几乎充分可测拓扑条件 。
The testability problem of analogue circuits and systems was discussed in a comprehensive way.The viewpoint of studying testability form,analysis and design was proposed.For the branch fault diagnosis approach of analogue circuits a number of new necessary and almost sufficient topological testability conditions were prsented.Various effective methods and algorithms for testability analysis and desgin are given.
出处
《湖南大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第1期85-92,共8页
Journal of Hunan University:Natural Sciences
基金
家自然科学基金资助 (594 770 0 2 )
湖南省自然科学基金 (N o.98JJY2 0 3 8)
高等学校骨干教师资助计划项目 (教文 [2 0 0 0 ] 6 5号 )资助
