摘要
DAG- MAP是一个面向延迟优化的 FPGA工艺映射算法 ,其中的标记过程是该算法的核心 .文中对原算法中的标记过程进行了研究 ,提出了一个改进的标记方法 .对 MCNC标准测试电路所做实验的结果表明 ,该算法比原算法更为有效 。
DAG MAP is a FPGA technology mapping algorithm for delay optimization and the labeling phase is the algorithm's kernel. This paper studies the labeling phase and presents an improved labeling method. It is shown through the experimental results on MCNC benchmarks that the improved approach is more effective than the original one and the computation time is almost the same.
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2001年第9期851-854,共4页
Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics
基金
美国国家科学基金 (5 978East Asia and Pacific Program -960 2 485 )资助
