摘要
本文针对成败型串联系统的存储可靠性进行分析,建立一种综合利用分系统存储和少量整机试验的存储可靠性评估方法。将分系统串联而成的模拟系统作为先验分布的参考模型;然后利用先验矩方法对先验分布中的超参数进行确定;最后结合整机试验,利用Bayes方法对武器装备系统存储可靠性进行评估。采用该方法对某型产品存储试验可靠性进行了评估,研究出了在一定的置信水平下的可靠度区间。结果表明,这种方法对整体样机较少,系统构成复杂的可靠性研究,具有较为准确的评估。
出处
《电子世界》
2013年第18期111-112,共2页
Electronics World
