一种x衍射用多尺寸固体块状样品分析台

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摘要本实用新型涉及一种仪器分析样品台，特别涉及一种x衍射用多尺寸固体块状样品分析台。主要解决采用黏结剂、样品附着在其他物质表面或者更换适合小样品尺寸的样品台进行固定测量，不仅工作效率低下，且导致错误的测量结果的技术问题。

作者徐永宏吴小红孙华云周桂海胡宏卫

机构地区上海梅山钢铁股份有限公司

出处《宝钢技术》 CAS 2013年第3期12-12,共1页 Baosteel Technology

关键词样品分析 x衍射尺寸块状固体仪器分析实用新型物质表面

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宝钢技术

2013年第3期

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