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谈传感器内腔的保护及密封质量引起的零点飘移问题 被引量:1

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摘要 传感器零点和性能指标长期稳定性,与传感器内腔的保护及密封这一工艺环节有着密切关系,所以大多数厂家均采取加强内腔保护提高密封技术等措施,本文就这一工艺环节做一介绍,以供读者参考。
作者 武君婷
出处 《衡器》 2000年第4期20-22,共3页 Weighing Instrument
  • 相关文献

参考文献2

  • 1王云章著..应变式传感器故障分析与修理[M].北京:中国计量出版社,1995:293.
  • 2马良程.应变电测与传感器技术[M].中国计量出版社,1993.. 被引量:2

共引文献1

同被引文献14

引证文献1

二级引证文献1

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