X射线衍射仪的X射线溯源被引量：2

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摘要针对X射线波长短、能量高，不易直接将x射线波长溯源至SI国际单位，通过采用不同单色器单色化入射X射线，将入射光源溯源至单晶硅晶格参数。结果显示x射线波长引入的最大不确定度为0．0013nm。

作者任玲玲高慧芳

机构地区中国计量科学研究院

出处《计量技术》 2012年第8期3-5,共3页 Measurement Technique

基金质检总局公益项目21-AHY1013-1113 中国计量科学研究院基本业务费21-AKY1006.

关键词 X射线衍射仪单色器晶格校准不确定度溯源

分类号 TN304.26 [电子电信—物理电子学]

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