期刊文献⁺

任意字段

题名或关键词

题名

关键词

文摘

作者

第一作者

机构

刊名

分类号

参考文献

作者简介

基金资助

栏目信息

适用于直流和射频器件表征和建模的平台软件

下载PDF

导出

摘要器件建模软件平台IC—CAP 2011．04将IC—CAP Wafer Professional自动测量解决方案与IC—CAP CMOS模型提取套件相结合，能够显著改善半导体器件的建模流程。先进的CMOS器件建模需要执行大量测量，以分析制程趋势，确定提取典型和边际器件模型所需的数据。

出处《今日电子》 2011年第8期70-70,共1页 Electronic Products

关键词器件建模平台软件射频器件 PROFESSIONAL 表征直流自动测量 CMOS

分类号 TN313.2 [电子电信—物理电子学]

引文网络
相关文献

1安捷伦科技公司发布适用于直流和射频器件表征和建模的最新IC-CAP平台软件[J].电子测量技术,2011,34(7):120-120.
2安捷伦科技公司发布适用于直流和射频器件表征和建模的最新IC—CAP平台软件[J].计算机测量与控制,2011,19(7).
3安捷伦科技公司发布适用于直流和射频器件表征和建模的最新IC-CAP平台软件[J].国外电子测量技术,2011,30(7):81-81.
4王金延,许铭真,谭长华.基于MOSFET比例差值特性的器件表征方法[J].Journal of Semiconductors,2001,22(3):340-344. 被引量：1
5参数测试软件可提供无缝的实验室和开发环境[J].今日电子,2006(4):87-87.
6王生国,胡志富.GaAs MIM电容模型[J].半导体技术,2010,35(6):607-609. 被引量：2
7胡志富,王生国,何大伟,蔡树军.微波单片电路中通孔的建模[J].半导体技术,2008,33(3):272-274. 被引量：1
8安捷伦成立新中国研发中心,扩大对器件建模的投资[J].通讯世界,2007(4):71-71.
9安捷伦发布最新SPICE模型提取和模型验证软件,整合器件建模流程[J].电子设计工程,2013,21(6):7-7.
10是德科技推出新型分析仪,主攻先进器件表征和低功率器件评估[J].电子测量技术,2016,39(3):165-165.

今日电子

2011年第8期

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...

;

使用帮助返回顶部