期刊导航
期刊开放获取
cqvip
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
安捷伦科技公司发布适用于直流和射频器件表征和建模的最新IC-CAP平台软件
下载PDF
职称材料
导出
摘要
安捷伦科技公司(NYSE:A)日前宣布发布最新版本的器件建模软件平台集成电路表征和分析程序。IC-CAP2011.04将IC-CAP Wafer Professional自动测量解决方案与IC-CAP CMOS模型提取套件相结合,能够显著改善半导体器件的建模流程。
出处
《国外电子测量技术》
2011年第7期81-81,共1页
Foreign Electronic Measurement Technology
关键词
安捷伦科技公司
器件建模
平台软件
射频器件
PROFESSIONAL
表征
直流
半导体器件
分类号
TN313.2 [电子电信—物理电子学]
引文网络
相关文献
节点文献
二级参考文献
0
参考文献
0
共引文献
0
同被引文献
0
引证文献
0
二级引证文献
0
1
安捷伦科技公司发布适用于直流和射频器件表征和建模的最新IC-CAP平台软件[J]
.电子测量技术,2011,34(7):120-120.
2
适用于直流和射频器件表征和建模的平台软件[J]
.今日电子,2011(8):70-70.
3
安捷伦科技公司发布适用于直流和射频器件表征和建模的最新IC—CAP平台软件[J]
.计算机测量与控制,2011,19(7).
4
王生国,胡志富.
GaAs MIM电容模型[J]
.半导体技术,2010,35(6):607-609.
被引量:2
5
胡志富,王生国,何大伟,蔡树军.
微波单片电路中通孔的建模[J]
.半导体技术,2008,33(3):272-274.
被引量:1
6
安捷伦成立新中国研发中心,扩大对器件建模的投资[J]
.通讯世界,2007(4):71-71.
7
安捷伦科技公司成立新的中国研发中心,扩大对器件建模的投资[J]
.电信技术,2007(3):59-59.
8
夏增浪,胡贵才.
亚微米MOSFET的BSIM3模型参数提取[J]
.微电子学与计算机,1999,16(4):8-9.
被引量:3
9
王金延,许铭真,谭长华.
基于MOSFET比例差值特性的器件表征方法[J]
.Journal of Semiconductors,2001,22(3):340-344.
被引量:1
10
参数测试软件可提供无缝的实验室和开发环境[J]
.今日电子,2006(4):87-87.
国外电子测量技术
2011年 第7期
职称评审材料打包下载
相关作者
内容加载中请稍等...
相关机构
内容加载中请稍等...
相关主题
内容加载中请稍等...
浏览历史
内容加载中请稍等...
;
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部