摘要
介绍了探测器杜瓦组件的加速寿命试验方法,对用于某机载红外热成像系统长波576×6 HgCdTe红外焦平面探测器组件的无维护真空寿命进行了分析,结果表明,产品真空寿命超过10年(可靠度为95%),满足产品应用要求。
The paper introduces accelerated life testing of integrated detector dewar assembly （IDDA）. With this method, the vacuum life of long wave 576 × 6 HgCdTe IDDA is analyzed. The result indicates that the vacuum life of the product is longer than 10 years（95% reliability） ,which satisfies the application requirement.
出处
《激光与红外》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第7期779-783,共5页
Laser & Infrared
