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集成电路老化测试插座的结构形式
被引量：
2
Structured Configuratious for IC Burn-In Sockets
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摘要
集成电路(IC)老化测试插座(以下简称老化测试插座)主要应用于集成电路产品的检测、老化、筛选等场合,其最大的用户是集成电路器件制造厂。本文对集成电路老化测试插座的结构形式做一简单的介绍。
作者
肖颖
周庆平
余珺
机构地区
中国电子科技集团公司第四十研究所
出处
《电子产品世界》
2011年第5期45-48,共4页
Electronic Engineering & Product World
关键词
集成电路
老化测试
插座
表面贴装
封装
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
引文网络
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佘玉芳.制造、使用、维修[M].北京:电子工业出版社.1992.
被引量：1
2
郑华宇.
关于集成电路插座[J]
.机电元件,1995,15(2):62-66.
被引量：3
3
球删阵列封装-小荷才露尖尖角.EDN CHINA 电子设计技术,1995,12.
被引量：1
4
张经国.
SMD技术向高端的发展趋势[J]
.世界电子元器件,2003(1):70-72.
被引量：1
5
贾松良等.电子封装与互连手册(第四版)[M].北京:电子工业出版社,2009,06.
被引量：1
共引文献
2
1
肖颖.
CQFP系列老炼测试插座的结构[J]
.机电元件,2012,32(3):10-15.
被引量：1
2
张洁,刘敏.
QFN系列老炼测试插座的设计[J]
.机电元件,2015,35(2):8-11.
同被引文献
11
1
张大为.
电子元器件的老化测试及最新设备浅述[J]
.科学技术创新,2019(17):151-153.
被引量：8
2
李华伟.
考虑时延偏差的数字电路时延测试综述[J]
.集成技术,2013,2(6):54-64.
被引量：3
3
朱卫良.
集成电路动态老化新技术的实施[J]
.电子与封装,2008,8(11):12-15.
被引量：4
4
靳松,韩银和,李华伟,李晓维.
考虑工作负载影响的电路老化预测方法[J]
.计算机辅助设计与图形学学报,2010,22(12):2242-2249.
被引量：16
5
黄正.
BGA芯片级封装老化测试插座的设计研究[J]
.中国电子商情,2011(9):41-45.
被引量：2
6
李军,缪海杰.
电子产品加速寿命试验研究[J]
.电子测试,2011,22(11):33-35.
被引量：16
7
陈光浩,张福洪,徐春晖.
一种集成电路老化测试设备的嵌入式系统设计[J]
.计算机与数字工程,2014,42(5):891-895.
被引量：5
8
张璐雅,罗兰.
数字电路老化失效预测与防护[J]
.黑龙江科学,2015,6(12):86-87.
被引量：2
9
胡舜峰,张福洪,陈妍芬,徐春晖.
集成电路老化测试系统的数据通信接口设计[J]
.杭州电子科技大学学报（自然科学版）,2015,35(6):46-49.
被引量：6
10
吕磊,田云,曹韧桩,尹燕恒.
数字集成电路老化测试技术[J]
.电子技术与软件工程,2017(24):98-98.
被引量：7
引证文献
2
1
张大为.
半导体芯片老化测试座的应用及市场综述[J]
.电子测试,2019,0(17):87-89.
被引量：2
2
费跃哲.
集成电路老化及老化检测技术研究[J]
.微处理机,2020,41(2):22-25.
被引量：1
二级引证文献
3
1
王逸之,杨忠,李嘉玮.
基于PLC和组态王的芯片老化测试温度控制系统设计[J]
.金陵科技学院学报,2021,37(1):40-45.
被引量：3
2
张锦,刘政辉,扈啸,胡春媚.
面向自主芯片频率扫描实速测试的扫描链分析[J]
.电子测量与仪器学报,2024,38(3):122-132.
3
张大为.
电子器件老化测试中的新技术应用[J]
.集成电路应用,2024,41(7):80-82.
1
余波,李维,吴兆耀.
新型数字IC测试仪的设计[J]
.成都师范学院学报,2013,29(7):122-124.
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2
毛其英.
可控硅简易测试仪[J]
.家庭电子,2004(1):19-19.
3
吴信.
集成电路芯片的测试接口单元[J]
.电子测试,2001,14(4):200-202.
4
任艳,欧月华.
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.广东通信技术,2016,36(9):76-79.
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5
黄正.
BGA芯片级封装老化测试插座的设计研究[J]
.中国电子商情,2011(9):41-45.
被引量：2
6
丁华君.
PLD编程器的制作[J]
.实用影音技术,1995,0(3):64-68.
7
Aries公司RF中心探针测试插座[J]
.电子产品世界,2004,11(12B):45-45.
8
邹书平.
雷达回波图不能实时传输的故障分析[J]
.贵州气象,1998,22(5):30-32.
9
张冉,叶新艳.
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.电子测试,2016,27(4):29-30.
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