摘要
利用光电子能谱XPS研究CeO2包覆TiO2后氧化还原性能．TEM照片证明实验中制备出包覆材料；Ce3d谱线说明加入TiO2后CeO2非常容易还原，吸氧时它能够再氧化．由于CeO2的晶体结构发生畸变，CeO2的活化能降低，有利于氧空位移动，所以CeO2容易还原氧化．
Redox capacity of CeO_2 coating TiO_2 is discussed.It is showed that CeO_2 is easy to be reduced and can be re-oxidized while expoursing O_2.Due to Ti^(4+) mixed in the CeO_2 lattice,the activation energy decrease,which attributed to oxygen vacancy migration.
出处
《北京科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第4期331-333,共3页
Journal of University of Science and Technology Beijing
基金
国家教委博士生研究基金
福特-中国发展研究基金
