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用于特征X射线测厚仪的数据处理器电路设计 被引量:3

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摘要 利用特征X射线测厚是一种适用又方便的方法。数据处理器是测厚仪的重要部分之一,它具有数据采集和与电脑通信的功能。数据处理器包括脉冲整形和单片机系统两个模块;处理器工作正常,达到设计的要求。
出处 《湖南科技学院学报》 2010年第8期22-23,共2页 Journal of Hunan University of Science and Engineering
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献2

  • 1Chaudhuri, J. ; Shah, S. ,Thickness measurement of thin films by x-ray absorption [ J ]. J; Appl. Phys, 1991(69):499-501. 被引量:1
  • 2复旦大学.原子核物理实验方法[M].北京:原子能出版社,1996. 被引量:10

共引文献15

同被引文献21

引证文献3

二级引证文献6

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