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微纳米尺寸测量技术
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摘要
随着精密和超精密加工技术的迅速发展,亚微米和纳米级的测量方法不断出现,本文对近年几种常见的微纳米计量技术的基本测量原理和方法作了简单的介绍。
作者
李成贵
赵清亮
董申
机构地区
哈尔滨工业大学精密工程研究所
出处
《实用测试技术》
1999年第1期15-17,37,共4页
Practical Measurement Technology
关键词
尺寸测量
微纳米测量
扫描隧道显微镜
激光
分类号
TG806 [金属学及工艺—公差测量技术]
TH741.8 [机械工程—光学工程]
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