期刊文献+

边沿速率导致的高速问题

High Speed Problems Induced by Edge Speed of Signal
下载PDF
导出
摘要 随着IC制造工艺水平的提高,信号的上升沿越来越快,由此就会引发许多反射、串扰、过冲和下冲等信号不完整的问题。由于这些问题都是由IC芯片的边沿速率提升导致,因此统称它们为高速问题。分析了各种高速问题中反射、串扰、过冲和下冲等产生的原因机理,并总结出了在PCB设计过程中的解决方法。 With the development of IC produce technics level, the rise edge of signals become faster and faster. Then some high speed problems will occur, such as echo, crosstalk, over shoot, under shoot, and so on. In the paper, the theories of high speed problems are analyzed. The way which solves the high speed problems during PCB design is offered.
作者 吕霆 李宗华
出处 《电子工艺技术》 2010年第2期90-92,120,共4页 Electronics Process Technology
关键词 高速电路 高速问题 反射 串扰 过冲 下冲 D ocum en t C ode:A A rticle ID:1001-3474(2010)02-0090-04
  • 相关文献

参考文献4

二级参考文献28

  • 1张洁萍.电磁兼容与印制电路板的设计[J].印制电路信息,2005,13(5):23-26. 被引量:17
  • 2庄良,张涌.有效设计阻抗匹配电路改善数字电路信号传输的完整性[J].电测与仪表,2006,43(2):39-43. 被引量:6
  • 3曾峰 侯亚宁 曾凡雨.印制电路板(PCB)设计与制作[M].北京:电子工业出版社,2002.85-107. 被引量:6
  • 4Maio I, Canavero F G. Analysis of crosstalk and field coupling to lossy MTL's in a SPICE enviroment [ J ].IEEE Trans On EMC, 1996,38:221 - 229. 被引量:1
  • 5Stephen H Hall, Garrett W Hall, James A Mccall. Highspeed digital system design [ M ]. Wiley - IEEE Press,2000. 被引量:1
  • 6Michel Mardiguian. EMI troubleshooting techniques [ M ].McGraw - Hill Inc. ,2000. 被引量:1
  • 7Montrose M I. Printed circuit board design techniques for EMC compliance[ M]. IEEE Press, 1996. 被引量:1
  • 8ATEML Corp. EMC improvement guidelines[ EB/OL]. http://www, atmel, com/dyn/products/app - notes, asp family - id =604,2000. 被引量:1
  • 9Holloway C L. Net and partial inductance of a microstrip ground plane [ J ]. IEEE Trans On EMC, 1998,40 : 33 -45. 被引量:1
  • 10Laroussi R. Finite - element method applied to EMC problem [ J ]. IEEE Trans On EMC, 1993,35 : 178 -183. 被引量:1

共引文献34

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部