浅谈SEM＆EDS在PCB失效分析中的应用

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摘要 IPCB失效原因越来越多，在以前看起来难以发现的问题，现在可以用电子扫描显微镜与能谱（SEM＆EDS）分析出来。本文介绍了在PCB生产过程中利用SEM＆EDS发现的三个较为经典的案例，介绍了该技术在实际解决问题过程中的关键作用。

作者陈良

机构地区深圳正天伟科技

出处《印制电路资讯》 2009年第5期87-88,共2页 Printed Circuit Board Information

关键词 SEM&EDS PCB失效分析

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印制电路资讯

2009年第5期

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