双极 IC 电浪涌损伤诊断技术

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摘要以进口双极ＳＮ５５１８９Ｊ电路和国产双极５４Ｓ００电路为典型示例，系统介绍集成电路电浪涌损伤的诊断技术和分析技术，说明了如果ＩＣ电路出现电浪涌损伤现象，应从电路设计、制造、使用三方面全面地查找原因，采用先进技术和手段准确地诊断出电浪涌产生的根源、途径，从而采取有效措施彻底消除电浪涌的损伤。

作者王宏全

机构地区航天总公司半导体器件失效分析中心

出处《航天工艺》 1998年第2期30-34,共5页

关键词集成电路电浪涌损伤诊断技术双极电路

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航天工艺

1998年第2期

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