摘要
主要介绍了X射线衍射技术、扫描隧道显微技术、原子力显微技术、扫描探针显微技术和原子力光子扫描隧道组合显微镜技术等的工作原理及其在纳米粒子结构和性能分析上的应用和进展.
The working principles of X-ray diffraction （XRD）, scanning tunneling microscopy （STM）, atomic force microscope （AFM）, scanning probe microscopy （SPM） are introduced. The application and development of these technologies in the analysis of the structure and properties of nano-particles are also discussed.
出处
《材料研究与应用》
CAS
2008年第2期103-106,共4页
Materials Research and Application
关键词
纳米材料
现代分析技术
组分与结构表征
性能研究
nano-materials
modern analytical technology
composition and structure characterization
property study
