摘要
当亚微米技术取得将数十万晶体管集成在一小块硅片上的辉徨成绩时,集成电路设计者可以不太费力地把传统中相当于一个系统的电路,例如从处理器一直到总线接口的电路,都设计在一块小小的芯片上,这就是所谓“芯片系统(The system-on-a-chip)”。对于这种芯片系统进行测试,显然是一个相当复杂的任务。分析表明,传统的方法对很多问题是无能为力的。这不仅在于这种芯片上具有的极大量电路和芯片少量插脚之间的矛盾,使测试无法全面控制、观察所有需要测试的电路节点,而且传统测试所采用的低于工作速度的测试方式,也已不再适应这种电路的实际需要。
出处
《国外电子测量技术》
1997年第5期12-15,共4页
Foreign Electronic Measurement Technology